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產品簡介
詳細介紹
X熒光膜厚儀_天瑞儀器
廣泛應用于電路板、連接器、金屬絲、鏈接插件、引線框架、汽車零部件、半導體、電子產品、五金工具等企業中，打破了國外（例如：德國Fischer）壟斷局面，在電鍍行業占有 一定地位，為企業提供有效解決方案。
X熒光膜厚儀_天瑞儀器 性能優勢
置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
【國產X熒光膜厚儀技術參數】
工作穩定性高，故障率低。
多變量非線性回收程序
相互獨立的基體效應校正模型薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
度適應范圍為15℃30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層（鍍金、鍍錫、鍍鋅等）
一次可同時分析多達五層鍍層，快速、。
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
【X熒光膜厚儀檢測實例】
銅鍍鎳樣品
X熒光膜厚儀測試譜圖
樣 品 名 成分Ni(%) 鍍層Ni(um)
吊扣 100 19.321
吊扣2# 100 19.665
吊扣3# 100 18.846
吊扣4# 100 19.302
吊扣5# 100 18.971
吊扣6# 100 19.031
吊扣7# 100 19.146
平均值 100 19.18314
標準偏差 0 0.273409
相對標準偏差 0 1.425257
國產X熒光膜厚儀銅鍍鎳件測試結果