產品簡介
泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度儀新型粗糙度儀,可測 Ra , Rz 兩種參數。 DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。底部傳感器直接接觸被測工件進行測量,其設計可滿足不同的技術與工作環境要求。儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間,即可讀出測量值。
詳細介紹
泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度儀新型粗糙度儀,可測 Ra , Rz 兩種參數。 DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。底部傳感器直接接觸被測工件進行測量,其設計可滿足不同的技術與工作環境要求。儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間,即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可,攜帶方便 DUO粗糙度儀 可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經外接口 操作者可在距離被測工件 1m 處操作測量。
校準方便 DUO 粗糙度儀具有自身校準標準,可預設標準值,通過 LCD 顯示出來。
測針保護 不用時,設“ park ”位置可全面保護測針。
人體工程學設計
泰勒SURTRONIC DUO表面粗糙度儀技術參數:
量 程: | 200um |
行 程: | 5mm |
取樣長度: | 0.8mm+/-15% |
參 數: | Ra : 0.1um-40um Ra : 0.1um-199um |
精 度: | Ra:0.1um Rz:0.1um |
尺 寸: | 125*80*38mm |
檢測方式: | 壓電式 |
重 量: | 200g |