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使用“二合一法”解決方案進(jìn)行清潔度分析
在汽車和運(yùn)輸、微電子、制造和醫(yī)療器械等行業(yè)中，產(chǎn)品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。
徠卡 DM6 M LIBS 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學(xué)顯微術(shù) (目視分析) 和激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) (化學(xué)分析) 相結(jié)合。與掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 等其他方法進(jìn)行比較，在高效清潔度分析中占據(jù)著優(yōu)勢。
查找和消除污染源更輕松
對(duì)于技術(shù)清潔度，終目標(biāo)是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時(shí)間和精力識(shí)別污染源，因?yàn)榍鍧嵍确治隽鞒痰玫搅撕喕?nbsp;
與使用掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 進(jìn)行分析的不同之處在于:
> 無需樣品制備；
> 無需將樣品從一個(gè)設(shè)備傳輸?shù)搅硪粋€(gè)設(shè)備；
> 無需在濾片上重新定位感興趣區(qū)域，也無需進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)節(jié)；
> 無需損失等待真空的時(shí)間 (分析始終在大氣條件下的空氣中進(jìn)行)
“二合一法”解決方案:顆粒成像和構(gòu)成分析
以下圖 2 所示為使用徠卡 DM6 M LIBS 解決方案對(duì)濾片上的顆粒進(jìn)行可視和化學(xué)分析的示例。
圖 2：使用 DM6 M LIBS 二合一解決方案執(zhí)行清潔度分析:
A) 檢測、統(tǒng)計(jì)和測量濾片上的顆粒；
B) 如果是金屬顆粒，選擇適當(dāng)?shù)膶?duì)比度方法可以看到顆粒的反射光；
C) 激光追蹤 ( 紅色十字準(zhǔn)線) 濾片上檢測到的顆粒，以運(yùn)用 LIBS 進(jìn)行化學(xué)分析；
D) 來自 LIBS 的元素譜清楚地表明該顆粒由鋁 (Al) 組成。
雙重高效的總體清潔度工作流程
對(duì)于整個(gè)清潔度工作流程，往往要使用多個(gè)供應(yīng)商提供的多種儀器來執(zhí)行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析，在整個(gè)流程中使用來自“單一源”的一種清潔度解決方案更加方便。徠卡公司和 Pall 公司共同努力為汽車和運(yùn)輸行業(yè)提供了這樣一種*而全面的清潔度解決方案。您可在下面的圖 3 中看到使用 Pall 清洗柜和徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案的整體清潔度工作流程。
整套解決方案的優(yōu)勢在于更容易達(dá)到清潔度分析的終目標(biāo):：
> 測定顆粒導(dǎo)致?lián)p壞的潛在可能性；
> 找到并消除對(duì)產(chǎn)品性能和使用壽命構(gòu)成嚴(yán)重威脅的污染源
圖 3：符合 VDA19 且有效的汽車行業(yè)整體清潔度工作流程：
從濾片顆粒提取和保留 （Pall 清洗柜） 到可視和化學(xué)分析（徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案）。
目標(biāo)旨在更快地找到危險(xiǎn)顆粒污染源并消除它們。
關(guān)于徠卡顯微系統(tǒng)Leica Microsystems
徠卡顯微系統(tǒng)是顯微科技與分析科學(xué)儀器之，總部位于德國維茲拉(Wetzlar, Germany)。主要提供顯微結(jié)構(gòu)與納米結(jié)構(gòu)分析領(lǐng)域的研究級(jí)顯微鏡等專業(yè)科學(xué)儀器。自公司十九世紀(jì)成立以來，徠卡以其對(duì)光學(xué)成像的ji致追求和不斷進(jìn)取的創(chuàng)新精神始終得到業(yè)界廣泛認(rèn)可。徠卡在復(fù)合顯微鏡、體視顯微鏡、數(shù)碼顯微系統(tǒng)、激光共聚焦掃描顯微系統(tǒng)、電子顯微鏡樣品制備和醫(yī)療手術(shù)顯微技術(shù)等多個(gè)顯微光學(xué)領(lǐng)域處于lin先地位。
徠卡顯微系統(tǒng)在有七大產(chǎn)品研發(fā)與生產(chǎn)基地，在二十多個(gè)國家擁有服務(wù)支持中心。徠卡在一百多個(gè)國家設(shè)有區(qū)域分公司或銷售分支機(jī)構(gòu)，并建有遍及的完善經(jīng)銷商服務(wù)網(wǎng)絡(luò)體系。