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瓦里安ICP-MS電感耦合等離子體質譜

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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 730-ES
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 經銷商
  • 所在地 東莞市
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更新時間:2020-08-06 17:52:55瀏覽次數:1231

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產品簡介

保修期限 1年 產地類別 進口
產品成色 9成新 使用年限 2-3年
應用領域 醫療衛生,環保,食品,化工,生物產業
瓦里安ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀器為臺式設計、全譜直譜型電感耦合等離子體發射光譜儀,滿足各行業的科研和生產分析過程,可方便的進行定性、半定量、定量分析,是常量、微量和痕量無機元素同時分析的理想儀器。

詳細介紹

瓦里安ICP-MS電感耦合等離子體質譜技術參數:
光學系統
1.儀器光學系統要求:中階梯光柵前置棱鏡交叉色散系統;波長范圍177~785nm,全波長連續覆蓋;

2.焦距:0.400米;光柵刻線:94.74線/mm;
3.紫外區和可見區分析波長測定方式:紫外和可見區必須同時測定,測定過程中無任何移動部件;

4.密封單色器,恒溫35℃;
5.波長校正方式:采用15種標準混合溶液進行波長校正,并且利用氬的發射譜線自動進行周期性的實時波長校正;

 


6.瓦里安ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀的分辨率要求:像素分辨率≤0.004nm(200nm),光學分辨率≤0.009nm(在200nm);
7.雜散光要求:s2ppm As(10,000ppm Ca溶液在As188.980nm處測定);
8.單色器為吹掃型,吹掃氣流量不超過0.5L/min,且185nm以下波長測定:需要快速吹掃光路,吹掃氣流量不超過3L/min,氣體流量均有PC控制。

 

 

 

全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀二手ICP OES 730-ES儀器硬件:

樣品引入系統
包括可以在低氣體流量和低電壓下獲得高精密度和高靈敏度的標準一體化石英氣炬。定購光譜儀時可對樣品引入系統進行選擇。
 可選類型包括:

情性雙通道氣旋霧化室和V形槽霧化器(僅用于徑向)
玻璃雙通道氣旋霧化室和SeaSpray霧化器(徑向和軸向均可使用)
玻璃單通i道氣旋霧化室和SeaSpray霧化器(僅用于軸向)
玻璃單通道氣旋霧化室和Conikal霧化器(僅用于軸向)
全電腦控制蠕動泵,速度變化范園為0-50 rpm, 具有三或四個通道,分別用于上樣,排廢、內標/電離緩沖液以及SVS快速沖洗液
選配部分或*可拆卸氣炬,配備玻璃或陶瓷注射管,高固體氣炬和全玻璃樣品導入系統

 

氣體控制
軟件采用轉換流量控制器控制等離子和輔助氣流量。為防止燃氣故障。此系統采用*聯鎖。
霧化氣:軟件控制氣體流量,采用高精度調壓器實現流量控制。或采用計算機實現質量流控制(MFC) (730/735 型儀器標配MFC)。以0.01升/分鐘的增量實現0-1.3升/分鐘的流量控制(采用MFC時)等離子氣:以1.5升/分鐘的增量實現0.22 5升/分鐘的流量控制。
輔助氣:以0.75升/分鐘的增量實現0-2.25升/分鐘的流量控制

射頻(RF)發生器
40 MHz獨立運行的空氣冷卻射頻發生器。輸出功率為700-1500 W,以50 W為增量。不同樣品類型的每個方法中包含特定的優化電源設置
 射頻耦合效率大于75%
根據用戶自定義的點火程序進行自動點火和熄滅
功率輸出穩定性優于0.1%

 

等離子體配置
徑向觀測系統(725/735 ICP-OES)
垂直方向的徑向等離子體觀測系統是高難度應用包括油和有機溶劑分
析,地質/金屬消解物和高總溶解固體(TDS)溶液例如海水的理想選擇。通過全電腦控制等離子體觀測高度(0-20 毫米)和水平調節(約3毫米) 來優化靈敏度和小化干擾。通過電腦控制調節觀測高度以滿足每個波長的需求。

 

軸向觀測系統(720/730 ICP-OES)
水平方向的軸向等離子體觀測系統適宜于高靈敏度分析。較徑向觀測系統相比,它將檢測限提高了3-12倍。軸向等離子體觀測系統擁有*的冷錐接口(CCI), 防止光學系統觀測到更冷的等離子尾焰。相對于傳統的軸向系統減少了干擾,提高了系統耐高溶解固體能力并擴展了線性動態范圍。較之剪切氣體系統,CCI 是更優的等離子接口,具有較低的運行成本。通過電腦控制調整等離子體在X. Y方向上的觀測位置。

 

光學系統
計算機優化且無移動部件的中階梯光柵光學設計確保低的檢測限和穩定性400毫米焦距多色器恒溫到35 °C以保證優異的穩定性。通過CaF2棱鏡橫向色散器和中階梯光柵(94.74 線/毫米)得到的光柵圖(70級)投影到專為用戶設計的CCD檢測器上電腦控制的標準多色器吹掃速度為0.75升/分鐘。對波長低于185納米的發射線用3升/分鐘加速吹掃。可用氬氣或氮氣吹掃(720/725要求選配氮氣吹掃套件)

 

CCD檢測器
專為用戶設計的CCD檢測器。采用了圖像映射技術(1-MAP) .提供167-785 nm的全波長覆蓋。檢測器安裝在三階Peltier裝置上.冷卻至零下35度以降低暗電流和噪音。


自適應積分技術(AIT) 允許在信噪比條件下同時測定強信號和微弱信號,該技術能夠自動為每-一個所選波長分配一一個像素讀取時間一越強的峰分配的積分時間越短,越弱的峰分配的積分時間越長。和傳統同步系統依次排列讀取步像不同,自適應積分技術能夠在同一時間完成所有讀取步驟,從而提供真正的同步測量專為用戶設計的檢測器擁有任意光譜CCD檢測器所能達到的讀出速度一即用1 MHz的時鐘速度處理像素。對檢測器上所有像素進行*采集的總讀取時間為0.8 秒左右。檢測器兩側提供雙向讀取電路,使讀取處理時間減少一半   CCD檢測器的每個像素都有防溢流保護。這使得強信號和附近痕量分析物的弱信號能同時得到測定。

 

分析性能:

預熱時間
待機模式下預熱時間為20分鐘,其中包括從點火開始的< 10分鐘的等離子體穩定時間。

 

雜散光
通過隔板和光學設計消除雜散光,使188 980 nm處的小于2.0 ppm的有效As (砷)信號能從1000 ppm Ca信號下檢出。

 

信號穩定性
無內標校正或任何形式的偏移校正的情況下,8小時內典型的信號漂移小于1% RSD。

 

典型分辨率(FWHM)
元素            波長(nm)      分辨率(nm)

砷                188. 980             <7
鉬                202.032              <7.2
鋅                213.857              <8
鉛                220. 353             <8.2
鉻                267.716              <10
銅                327.396              <13
鋇                614.172              <38

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