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光矢量分析儀(OCI-V)是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描,并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣,進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。該產品采用自有的光路設計以及先進算法,實現智能校準,操作簡單,極大節省測試時間。