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Hysitron 納米力學測試系統布魯克專門設計的Hysitron TI Premier 納米力學測試儀器在緊湊平臺中提供了業界的、定量納米力學表征技術。以被廣...
薄膜應力及基底翹曲測試設備產品品牌：Frontier Semiconductor產品型號：薄膜應力和硅片翹曲檢測儀產品描述：光學設計減少圖形襯底對激光的干涉。
紅外干涉測量設備適用于可讓紅外線通過的材料硅、藍寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平...
三維表面測量系統布魯克NPFLEX三維表面測量系統為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，超過300度的測量空間，克服了以往由于零件某些角度或取向問題...
全自動紫外線芯片應力測量儀全自動紫外線芯片應力測量儀一臺全自動紫外線——可見光RAMan儀器，主要用與測量芯片應力。
光學輪廓儀系統?光學輪廓儀系統適用于科研和生產的高質量表面測量手段ContourGT-I3D光學顯微鏡將三十多年表面測量經驗和技術融合到單一平臺上，實現調整校準...
晶圓厚度測量系統非接觸式厚度測量，可以測量背面研磨減薄和刻蝕后的晶圓，也可測量粘附在藍膜或者其他載體上的有圖形或凸起的晶圓，可應用于堆疊芯片和微機電系統。
納米力學測試系統布魯克的海思創TI 980 TriboIndenter同時具有高的性能、靈活性、可信度、實用性和速度。基于海思創幾十年的技術，他為納米力學表征帶...
薄膜應力及基底翹曲測試設備 FSM 500TC 200mm 高溫應力測試系統可以幫助研發和工藝工程師評估薄膜的熱力學性能和穩定性特性，主要應用于半導體，三-五族...
薄膜應力及基底翹曲測試設備 FSM推出基于商業化應用的激光掃描光學杠桿（Optilever）技術，主要應用于薄膜應力和晶圓彎曲測量。該設備頻繁使用在分析解決諸如...
光學輪廓儀ContourGT-XContourGT-X布魯克光學輪廓儀是白光干涉儀，可用于眼科鏡片、醫療器械、高亮度LED、半導體器件、TSV、太陽能電池片、汽...
三維光學輪廓儀表面輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。融合了表征、可定制選
臺階儀-表面輪廓儀德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以到5Å。臺階儀這項性能的到了過去四十...
探針式輪廓儀Dektak XTL探針式輪廓儀是一種用于化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器。分析樣品表面大尺寸三維形貌，探測樣品厚度。
中國臺灣泰仕 RM-1501數字式轉速計RM-1501數字式轉速計有 5 位 LCD 顯示屏，轉速范圍為 10.00 至 99,999 RPM。
中國臺灣泰仕 RM-1500數字式轉速計RM-1500數字式轉速計有 5 位 LCD 顯示屏，轉速范圍為 10.00 至 99,999 RPM，接觸及非接觸兩測...
中國臺灣泰仕 RM-1000光電式轉速計RM-1000是一款高精度、測量范圍廣的非接觸式光電轉速計，外觀設計精美，小巧便攜，操作簡單，應用于輪胎轉速、電風扇轉速...
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