二管參數測試儀 型號：JFY2012B
產品應用和概述
1 介紹
JFY2012B型二管參數測試儀是專為測試半導體的功能和參數設計的,可測試整流二管,三端肖特基整流器,.其良好的中文界面軟件,簡化了用戶對JFY2012B的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,存入EEPROM中.此外,不需附加任何軟件或經過特殊培訓,就可操作該儀器.
JFY2012B有以下特點:
※ 大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單.
※ 大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.
※全部可編程的DUT恒流源和電壓源.
※內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.
※ 測試電流分辨率1uA,測試電壓Z高可達1400V.
※ 重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題.
※ 軟件自校準功能.
1.2 概述
JFY2012B為各種普通二管，肖特基二管等提供了正向壓降（VF）反向耐(VR),反向漏電流(IR) Z主要參數的測試,和參數”合格/不合格”(OK/NO)測試,,測試正向壓降電流Z大可達100A,耐壓可達1400V，且用戶可通過機器上的鍵盤,很容易的把測試條件輸入進去,并將參數存入EEPROM中,便于日后方便且快速的打開調用.
.1 功能測試電路
自動模式:自動檢測有無DUT放于測試座中,有則自動處于重復測試狀態,無則處于重復檢測狀態.
手動模式; （剛開始未測試時屏幕白屏屬正常現象）當測試開關按下后才自動對測試座中的DUT進行檢測測試，長按開關不松開則處于重復測試狀態,松開開關則自動停止測試.
1.2. 2 設備規格
電源電壓：AC220V，50HZ， 功率：≤75W。
工作環境：0—40°C ， 相對濕度：≯85% 。
外形尺寸：300×300×20mm 。
重量：約4.5 Kg 。
 | 產品名稱：彩屏紫外可見分光光度計
產品型號：N6000 |
彩屏紫外可見分光光度計型號：N6000
儀器描述：
本儀器采用了全新的光學系統設計、微機控制和處理數據、大屏幕彩色顯示，圖形化界面操作和人性化菜單提示，準備繪出光譜圖和分析測試數據。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。光譜數據處理功能強；采用中文人機對話、操作方便；儀器外形美觀大方。
儀器功能及特點：
1、32位微控制器ARM11，其主頻可達到533MHz，采用美國BB公司專為光電數據采集處理的20位AD，性能穩定，可通過USB接口存儲轉移數據。
2、功能強大，主機可獨立完成光度測量、定量測量、光譜掃描、動力學、DNA/蛋白質測試，多波長測試及數據打印等功能。
3、儀器采用7英寸LCD彩屏顯示器，直接顯示掃描圖譜，屏幕界面簡單，方便使用。
4、設計*的光學系統，高性能1200條/mm光柵和進口接收器確保儀器有優良的性能指標。
5、插座式氛燈和鎢燈設計，換燈后免光學調試。
6、 24位高速、A/D轉換，儀器精度，反應速度快。
7、寬大的樣品室，可容納5-100mm各種規格的比色皿。
8、可直接連接打印機，打印圖譜和實驗數據。
9、儀器采用懸架式光學系統設計和長光程光路設計，從而大大提升了儀器的穩定性和可靠性以及儀器的光學分辨率。
10、WINDOWS圖形化界面，方便選擇，快捷操作。
11、全新改良的絲桿傳動機構，使儀器波長精度重復性好。
儀器參數指標：
型號N6000
光學系統雙光束
波長范圍
190 - 1100nm
波長準確度
±0. 1nm （D2 656. 1nm），±0.3nm全區域
波長重復性
≤0.1nm
光譜帶寬
1nm
光度范圍
0-200%T、-4-4A
光度準確度±0.002A(0-0.5A)，±0.004A（0.5-1A），±0.2 %T (0～100 %T)
光度重復性
±0.001A(0-0.5A)，±0.002A（0.5-1A），±0.1 %T (0～100 %T)
穩定性
士0.0005A/h （500nm處）
雜散光
≤0.03%T
基線平直度±0.0015A
工作方式
T, A, C, E
顯示系統
7英寸大屏幕LCD彩屏
光源
進口長壽命鎢燈、氘燈
數據輸出
USB/RS232接口
檢測器
進口硅光二管
凈重
18kg |
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