TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀是基于氣溶膠儀器設計的經驗設計而成，使用簡單輕便，對顆粒能夠快速和準確的測量。
TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀
是基于氣溶膠儀器設計的經驗設計而成，使用簡單輕便，對顆粒能夠快速和準確的測量。
光學顆粒物粒徑譜儀產品簡介
TSI3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗，
本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和的電子處理系統，從而得到高質量和的數據。
同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的性。3330不僅可以單獨使用，而且還可以放入TSI的外場環境箱中在野外使用。
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 產品特點：
0.5微米時粒徑分辨率小于5%
粒徑通道用戶可調
檢測粒徑范圍：0.3-10微米，多16通道
顆粒物粒徑感應范圍：0.5至25 mm
檢測濃度范圍：0-3000 個 /cm3
彩色觸摸屏，直觀的用戶界面
滿足ISO 21501-01/04要求
輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數濃度和質量濃度
收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析
電池電量可供20小時的操作
多可存儲30000個數據
記錄每個樣品的溫度和壓力
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀技術參數
測量原則 ：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
zui高3,000個/ cm3 （3,000,000個/L）
質量濃度 ：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm
粒徑分辨率：0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 ：多16通道，用戶可調
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