篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-09-01 13:48:16瀏覽次數(shù):1339
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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TP200:具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測(cè)頭
特性與優(yōu)點(diǎn)
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雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng),既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè),也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。
觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)量離散的點(diǎn),是檢測(cè)三維幾何工件的理想選擇。
雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng),既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè),也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。
TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測(cè)量,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。
請(qǐng)注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測(cè)針。
附件:
測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上,具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭過(guò)行程保護(hù)功能。
有三種測(cè)針模塊可供選擇,具有兩種不同的過(guò)行程測(cè)力。
模塊 | SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力) | LF(低測(cè)力) | EO(長(zhǎng)過(guò)行程) |
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應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測(cè)球或必須使用小測(cè)力的場(chǎng)合。 | 額外過(guò)行程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說(shuō)明 | 測(cè)針長(zhǎng)可達(dá)100 mm,測(cè)球直徑 > 1 mm。 | 測(cè)球直徑小于1 mm。 | 與SF的過(guò)行程測(cè)力相同。 測(cè)頭Z軸的額外過(guò)行程為8 mm。 |