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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產品： 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2024-09-01 13:22:39瀏覽次數：1083
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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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TP200采用微應變片傳感器，實現優異的重復性和準確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬次觸發中的可靠操作。
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測力。
模塊 | SF（標準測力） | LF（低測力） | EO（長過行程） |
|---|---|---|---|
應用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外過行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。
DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.
TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。
請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
規格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要應用 | 用于需要高精度的數控坐標測量機。 | 與TP200一樣，但當出現誤觸發事件時。 |
感應方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
單向重復性 (2σ µm) | 電平觸發1：0.40 µm 電平觸發2：0.50 µm | 電平觸發1：0.40 µm 電平觸發2：0.50 µm |
XY (2D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發1：±0.80 µm 電平觸發2：±0.90 µm | 電平觸發1：±1 µm 電平觸發2：±1.2 µm |
XYZ (3D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發1：±1 µm 電平觸發2：±1.40 µm | 電平觸發1：±2.50 µm 電平觸發2：±4 µm |
測針交換的重復性 | SCR200：±0.50 µm（大） 手動：±1 µm（大） | SCR200：±0.50 µm（大） 手動：±1 µm（大） |
測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
過行程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
推薦的大測針長度（M2測針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測針模塊交換架 | 自動：SCR200 手動：MSR1 | 自動：SCR200 手動：MSR1 |
測針系列 | M2 | M2 |
