產品簡介
詳細介紹
QUC-200型數顯式磁性測厚儀性能執行標準:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本儀器適于測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面非磁性涂鍍層厚度的測定。
主要技術參數
1、測量范圍:0-200μm
2、測量精度:±(0.7μm+3%H)*H為標準厚度
QUC-200型數顯式磁性測厚儀性能執行標準:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本儀器適于測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面非磁性涂鍍層厚度的測定。
主要技術參數
1、測量范圍:0-200μm
2、測量精度:±(0.7μm+3%H)*H為標準厚度
QUC-200型執行標準:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本儀器適于測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面非磁性涂鍍層厚度的測定。
主要技術參數
1、測量范圍:0-200μm
2、測量精度:±(0.7μm+3%H)*H為標準厚度
QUC-200型執行標準:GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-74,本儀器適于測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面非磁性涂鍍層厚度的測定。
主要技術參數
1、測量范圍:0-200μm
2、測量精度:±(0.7μm+3%H)*H為標準厚度