詳細(xì)介紹
ED400測(cè)厚儀的基本工作原理是,當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)式樣接觸時(shí),測(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng), 使置于測(cè)頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與測(cè)頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù). 即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場(chǎng)會(huì)改變測(cè)頭參數(shù),而測(cè)頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號(hào)轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測(cè)涂鍍層的厚度.
ED400測(cè)厚儀適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
特點(diǎn):
ED400型渦流測(cè)厚儀測(cè)量范圍0~500 μm。
測(cè)量精度達(dá)到2%。
分辨率達(dá)到0.1 μm。
只校正“0”和“50 μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量誤差不大于1~2 μm。
采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
采用*進(jìn)的溫度補(bǔ)償技術(shù),測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
技術(shù)參數(shù):
技術(shù)參數(shù) | |
測(cè)量范圍: | 0~500 μm |
測(cè)量精度: | 0~50 μm:±1 μm; |
50~500 μm:±2% | |
分 辨 率: | 0~50 μm:0.1 μm; |
50~500 μm:1 μm; | |
0~500 μm:1 μm(可選) | |
使用溫度: | 5~45℃ |
外形尺寸: | 150 mm×80 mm×30 mm |
重 量: | 280 g |
標(biāo)準(zhǔn)配置:
主機(jī)1臺(tái)、探頭一個(gè)、基體一片(6063鋁合金)、校正片一套4片(附檢測(cè)報(bào)告)、儀器箱1個(gè)
可選配置:
備用探頭、基體、校正片(附檢測(cè)報(bào)告)