當前位置:北京楚齊儀表有限責任公司>>環境檢測儀>>粒子計數器>> 美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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流量范圍 | 小流量 | 儀器種類 | 實驗室 |
應用領域 | 環保 |
本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統,從而得到高質量和高精度的數據。
同時,TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精性。3330不僅可以單獨使用,而且還可以放入TSI的外場環境箱中在野外使用。
產品特點:
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術參數
測量原則 :
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制:
很高3,000個/ cm3 (3,000,000個/L)
質量濃度 :
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑:
檢測粒徑范圍:0.3-10 mm
粒徑分辨率:0.5mm時5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 :很多16通道,用戶可調
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