菲爾希x-ray xdlm237

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細(xì)小的部件，對低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵(lì)條件。

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn)，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XUM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從.上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī)，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。配備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當(dāng)測量門開啟時(shí)，XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到加載位置，同時(shí)激光點(diǎn)指示測量點(diǎn)位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測量室空間很大，樣品放置方便， 儀器不僅可以測量 平面平整的物體，也可以測量形狀復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達(dá)140mm)。Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。

特征:

      。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。
      。*高工作條件:50KV,50W
      。X射線探測器采用比例接收器
      。準(zhǔn)直器:固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x0.05 mm到00.3 mm
      。基本濾片:固定或3個(gè)自動(dòng)切換
      。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
      。固定樣品支撐臺(tái)，手動(dòng)XY工作臺(tái)
      。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
      。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
      。設(shè)計(jì)獲得許可， 防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:

      。大批量電鍍件測量
      。防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
      。電鍍行業(yè)樓液分析
      。線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
      。測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
      。電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
      。黃金，珠寶和手表行業(yè)

電鍍液成分分析：Cu, Ni, Au (g/l)

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB

應(yīng)用實(shí)例：

    XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時(shí)，就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得*大的信號強(qiáng)度。