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德國菲希爾X-RAY XDL 220熒光鍍層分析儀
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。
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FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。*多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。X-RAY XDL 220平面樣品平臺，馬達驅動的Z軸系統。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。X射線熒光光譜儀，用于對保護和裝飾涂料，量產的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。
典型應用領域?測量大規模生產的電鍍部件?測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻 ?測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層 ?測量印刷線路板 ?分析電鍍溶液  |
主要特征 ?帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦?X射線管。*高工作條件:50KV,50W?X射線探測器采用比例接收器 ?準直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm ?基本濾片：固定或3個自動切換 ?測量距離可在0-80 mm范圍內調整 ?固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺 ?攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經過校準，顯示實際測量點大小。 ?設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節 |
| 技術參數 | |
| 預期用途 | 能量色散X射線熒光光譜儀 （EDXRF） 用來測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。 |
| 元素范圍 | *多同時測量從氯（Cl 17）到鈾（U 92）之間的24 種元素 |
| 設計理念 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| X 射線源 | 帶鈹窗口的鎢管 |
| 高壓 | 三種高壓： 30 kV，40 kV，50 kV，可調整 |
| 孔徑（準直器） | Ø 0.3 mm （可選：圓形Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm） |
| 測量點 | 取決于測量距離及使用的準直器大小；實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致。小的測量點大小約Ø 0.16mm. |
測量距離 如測量室內部 | 0 ~ 80 mm，未校準范圍，使用保護的DCM 功能 0 ~ 20 mm，已校準范圍，使用保護的DCM 功能 |
| X 射線接收器 | 比例接收器 |
| 視頻顯微鏡 | 高分辨 CCD 彩色攝像頭，用于查看測量位置 |
| 放大倍數 | 20x ~ 180x （光學變焦: 20x ~ 45x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x） |
| 設計 | 固定式樣品平臺 |
| 可用樣品放置區域 | 463 x 500 mm |
| 樣品*大重量 | 20 kg |
| 樣品*大高度 | 140 mm |
| 外部尺寸 | 寬x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650 |
| 操作溫度 | 10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
| 儲藏或運輸溫度 | 0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
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