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篤摯儀器(上海)有限公司

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[供應(yīng)]存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀EPK現(xiàn)貨

貨物所在地:上海上海市

產(chǎn)地:德國

更新時(shí)間:2024-07-10 08:59:01

有效期:2024年7月10日 -- 2025年1月9日

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MiniTest730存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀EPK現(xiàn)貨,新的產(chǎn)品線,加強(qiáng)了EPK在涂層測(cè)厚市場的.
有了新的SIDSP F型探頭(測(cè)量鐵基體)和N型探頭(測(cè)量非鐵基體),您可享受到高度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。

MiniTest730存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀EPK現(xiàn)貨

 

篤摯儀器(上海)有限公司以“優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值——Focus On Better Quality”為宗旨,專注于計(jì)量檢測(cè)和材料分析設(shè)備的研究、引進(jìn)與推廣,公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設(shè)計(jì)、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測(cè)等各方面顯著提升效率和可靠性

 

德國EPKMiniTest730系列產(chǎn)品,新的產(chǎn)品線,加強(qiáng)了EPK在涂層測(cè)厚市場的.

有了新的SIDSP F型探頭(測(cè)量鐵基體)和N型探頭(測(cè)量非鐵基體),您可享受到高度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。

 

MiniTest730存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀EPK現(xiàn)貨增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下,您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值;也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí),儀器會(huì)報(bào)警,保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。

MiniTest730使用簡單方便
MINITEST 700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì),外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測(cè)量需求:如果您想單手測(cè)量,可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。


預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢
所有MINITEST 700探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí),整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢,儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外,還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷售需要,MINITEST 700滿足各種標(biāo)準(zhǔn):SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亞(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。

-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性

-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)

 

SIDSP技術(shù)

SIDSP技術(shù)-技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭 
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去,數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢(shì)

SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,良好的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。

SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào),回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù),同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢(shì),為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。

 

SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào),都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾,因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

 

SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性

EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的性能。

高度的SIDSP探頭特征曲線

在生產(chǎn)過程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn),但SIDSP探頭不同:由于是全自動(dòng)化過程,探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn),大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn),將測(cè)量錯(cuò)誤降至zui低。

SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感

在生產(chǎn)過程中,對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a,這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量,與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生!
 

SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)

需要快速測(cè)量幾個(gè)點(diǎn)嗎?只要開啟快速測(cè)量模式,探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測(cè)量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測(cè)量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測(cè)量,SIDSP都能完成您的選擇!

SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償

由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。

 

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