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篤摯儀器(上海)有限公司

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智能數字化涂鍍層測厚儀minitest740

參考價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號:

品       牌: ElektroPhysik/德國EPK

廠商性質:代理商

所  在  地:上海市

更新時間:2023-11-12 18:22:57瀏覽次數:1299

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價格區間 面議 應用領域 電子,交通,冶金,航天,汽車
智能數字化涂鍍層測厚儀minitest740
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發的,世界**的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的**奠定了新標準。SIDSP即探頭內部數字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據世界**技術生產。

 

涂鍍層測厚儀minitest740探頭內置外置可換,讓用戶使用更加靈活,涂鍍層測厚儀minitest740更換不同探頭既可測小工件,薄涂層,也可測厚涂層,zui大測量到15mm

MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀


涂鍍層測厚儀minitest740-優點:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加準確
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高準確度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統計值能單獨調出
-超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件

 

 

SIDSP技術-*新技術,智能數字化的涂層測厚探頭 
模擬信號處理時代已成過去,數字信號處理將成為未來的趨勢

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發的,世界**的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的**奠定了新標準。SIDSP即探頭內部數字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據世界**技術生產。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理?
跟傳統技術不同,SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號,回傳的信號經過32位數字轉換和處理,帶給您準確的涂層厚度值。此項的數字處理技術,同時應用在現代通訊技術(手機網絡)方面,如數字濾波器,基帶轉換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和準確度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。

主機技術參數

主機型號

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內置

外置

內置外置可換

數據記憶組數

10

10

100

存儲數據量

*多10,000個

*多10,000個

*多100,000個

統計值

讀值個數、*小值、*大值、平均值、標準方差、變異系數、組統計值(標準設置/自由配置)

校準程序符合際標準和規范

ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準

校準模式

出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準,使用者可調節補償值

限值監控

聲、光報警提示超過限

測量單位

μm,mm,cm;mils,inch,thou

操作溫度

-10℃~60℃

存放溫度

-20℃~70℃

數據接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節AA電池

標準

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內置)/230g(外置)


探頭

探頭特性

F1.5,N07,FN1.5

F2

F5,N2.5,FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0~1.5mm

0~0.7mm

0~2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范圍

小工件,薄涂層

粗糙表面

標準探頭,使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應

電渦流

磁感應

磁感應

電渦流

磁感應

信號處理

探頭內部32位信號處理(SIDSP)

較準確度

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

*小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

*小曲率半徑
(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

*小曲率半徑
(凹,內置探頭)

30mm

30mm

30mm

*小測量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

*小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續模式下測量速度

每秒20個讀數

單值模式下*大測量速度

每分鐘70個讀數

 

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