MiniTest 730測(cè)厚儀Elektrophysik特約代理

MiniTest 730測(cè)厚儀不同于MiniTest 720，是外置探頭，儀器采用了內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加，溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤。儀器配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，單指引操作，25種語言可選，您可享受到高度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新該涂層測(cè)厚儀能解決您所有的涂層測(cè)厚問題，是您產(chǎn)品長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵。

新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場的。

-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò)

MINITEST730系列：統(tǒng)計(jì)型，外置一體式探頭,不可更換探頭
MiniTest 730 F 1.5 鐵基涂層，0...1500 µm
MiniTest 730 N 07 非鐵基涂層，0...700 µm
MiniTest 730 FN 1.5 兩用型，0...1500 µm (F)，0...700 µm (N)
MiniTest 730 F2 鐵基涂層，0...2000 µm
MiniTest 730 F5 鐵基涂層，0...5000 µm
MiniTest 730 N 2.5 非鐵基涂層，0...2500 µm
MiniTest 730 FN 5 兩用型，0...5000 µm (F)，0...2500 µm (N)
MiniTest 730 F15 鐵基涂層，0...15 mm

有了新的SIDSP探頭，您可享受到高度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。

 特點(diǎn)F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 F2 F5，N2.5，F(xiàn)N5 F15
F N F F·N·
測(cè)量范圍0-1.5mm0-0.7mm0-2mm0-5mm0-2.5mm0-15mm
使用范圍小型工程的事情，薄涂層，跟測(cè)量支架樹用粗糙糙表面標(biāo)準(zhǔn)SAGU頭，使用廣泛的厚度涂層
測(cè)量原理磁感應(yīng)電渦流磁感應(yīng)磁感應(yīng)電渦流磁感應(yīng)
信號(hào)處理的信號(hào)處理探測(cè)頭內(nèi)部分32（SIDSP）
精囊炎確度±（1μm的+0.75％讀值）±（1.5μm的+0.75％讀值）±（5μm的+0.75％讀值）
重復(fù)性±（0.5微米+0.5％讀值）±（0.8μm的+0.5％讀值）±（2.5微米+0.5％讀值）
低端量辨率0.05微米0.1μm的1微米
曲率（凸）1.0毫米1.5毫米為5mm的zui小半徑
zui小曲率半徑（凹入，外置探頭）7.5毫米10毫米25毫米
zui小曲率半徑（凹入，內(nèi)置探頭）30毫米30毫米30毫米
閔測(cè)量表面體積φ5mm的Φ10mmΦ25mm
zui小基Atsudo0.3毫米40μm的0.5毫米0.5毫米40μm的1毫米
連續(xù)下測(cè)量速度示意圖每秒20個(gè)讀數(shù)
單值在zui大測(cè)量速度示意圖每分鐘70個(gè)讀數(shù)

篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理德國EPK Elektrophysik磁感應(yīng)測(cè)厚儀、渦流測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀、庫倫法測(cè)厚儀、麥考特測(cè)厚儀等等，篤摯技術(shù)服務(wù)部與匯聚資源的合作品牌一起，以共同對(duì)計(jì)量及試驗(yàn)技術(shù)的專注和專業(yè)，致力于在質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域，為客戶提供區(qū)域化和化的廣泛而的服務(wù)，確保操作和維護(hù)儀器的總體有效性和成本*化，增強(qiáng)您測(cè)量和檢測(cè)的可靠性和性能。歡迎留言或

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：張磊

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