以下為我司為客戶現場培訓圖：
FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術，能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統中。
用于快速、地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。
基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業。
功能強大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。
FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計
FISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業中微小結構的產品
X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。
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