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電路實驗箱，電路分析實驗箱，電子技術實驗箱

電路分析實驗箱型號：AODD-ZTDA-13B

電路實驗開發平臺

1、　工作條件
　　　1.1　環境溫度：0～40℃
　　　1.2　相對濕度：≤75%
　　　1.3　交流電源:220V±10% 50±1Hz
　　　2、 資源環境
　　　2.1 多路電壓源和電流源。
　　　2.2 多波形信號源（脈沖波，三角波，正弦波）。
　　　2.3 帶通濾波器。
　　　2.4 多個實驗模塊。
　　　2.5 多個可變可讀無滑動點電阻器。
　　　2.6 多個可變可讀無滑動點電容器。
　　　2.7 可變可讀無滑動點電感器。
　　　2.8 集成電路芯片座，常用二極管，三極管，電解電容區。
　　　3、功能
3.1 完成電路分析，電工基礎等課程常規實驗。
3.2 完成電路分析，電工基礎等課程創新性，設計性電路實驗以及電路 課程設計與測試。
4、技術要求
4.1 電路實驗開發平臺輸出電源參數：
　　　 交流電壓源　有效值12.0V±10%,單獨使用條件下額定電流500mA。
　　　 直流電壓源一　+12.0V±2.5%，單獨使用條件下額定電流500mA。
　　　 直流電壓源二　-12.0V±2.5%，單獨使用條件下額定電流500mA。
　　　 直流電壓源三　+5.0V±2.5%，單獨使用條件下額定電流500mA。
　　　 直流電壓源四　+(1.25--12.0)V，單獨使用條件下額定電流500mA。
　　　 直流電壓源五　-(1.25--12.0)V，單獨使用條件下額定電流500mA。
　　 直流電流源一　　+2mA--40mA。
　　 直流電流源二　　+2mA--40mA。
　　　4.2 電路實驗開發平臺可調電源調節方式：
　　　　　可調電壓源調節方式：借助平臺資源數字化調節。
　　　　　可調電流源調節方式：借助平臺資源數字化調節。
　　　4.3 電路實驗開發平臺可調電源輸出數值獲取方式：
　　　　　可調電壓源輸出電壓值理論值直接讀取（不需要電壓表測量）：
　　　　　可調電流源輸出電流值理論值直接讀取（不需要電流表測量）。
　　　4.4 電路實驗開發平臺電源保護
　　　　　輸出電壓過壓保護：過壓額定值　0.5V。
　　　　　輸出電壓欠壓保護：欠壓額定值　0.5V。
　　　　　輸出電流過流保護：額定電流值　500mA。
　　　4.5 信號源參數
　　　　　脈沖波　100Hz--30KHz，幅度1.8V±10%。
　　　　　三角波　100Hz--30KHz，幅度4.0V±10%。
　　　 正弦波　100Hz--30KHz，幅度0--7V。
　　　4.6 信號源參數調節方式
　　　　 信號源頻率調節方式：借助平臺資源數字化調節。
　　　　 信號源幅度調節方式：借助平臺資源數字化調節。
　　　4.7 信號頻率與幅度數值獲取方式：
　　　　 信號頻率理論值直接讀取（不需要頻率表測量）：
　　　　 信號幅度理論值直接讀取（不需要幅度表測量）。
　　　4.8 帶通濾波器參數
　　　　　中心頻率；1KHZ，2KHZ，3KHZ，4KHZ，5KHZ,6KHZ,7KHZ，8KHZ，9KHZ。
　　　　　 帶寬　0.2f0
　　　4.9 帶通濾波器中心頻率調節方式
　　　　 借助平臺資源數字化調節。
　　　4.10 帶通濾波器中心頻率數值獲取方式
　　　 帶通濾波器中心頻率數值理論值直接讀取（不需要頻率特性儀測量）。
　　　4.11 電阻電路實驗模塊
　　　 只需要加電源及用連接線接入一個電阻，就可以測試電路參數及電量。
　　　 zui少可做如下實驗（其它實驗可由設計者和老師及時更新）
　　　　　基爾霍夫電流定律實驗。
　　　　　基爾霍夫電壓定律實驗。
　　　　　疊加原理實驗。
　　　　　戴維南等效電路實驗。
　　　　　替代定理實驗。
　　　　 三角形電阻電路與星形電阻電路的等效變換。
　　　　　zui大功率傳輸（功率匹配）實驗。
4.12 運算放大器實驗模塊
只需要加電源及用連接線接入少量電阻，就可以測試電路參數及電量。
zui少可做如下實驗（其它實驗可由設計者和老師及時更新）
運算放大器基本特性測量實驗。
比較器電路實驗。
電壓跟隨器電路實驗。
同相比例放大器電路實驗。
加法器電路實驗。
加減法電路實驗。
電壓變換電路實驗。
　　　 微分電路實驗。
　　　 積分電路實驗。
4.13 動態電路實驗模塊
只需要加電源及用連接線zui多接入一個電阻，一個電容，一個電感就可以測試電路參數及電量。
zui少可做如下實驗（其它實驗可由設計者和老師及時更新）
　　 RC串聯電路時間常數的測量實驗。
　　　 　RC串并聯電路電容充電時間的測量實驗。
　 RL串聯電路時間常數的測量實驗。
　　　 　RL串并聯電路電容充電時間的測量實驗。
4.14 交流穩態電路實驗模塊
只需要加電源及用連接線zui多接入一個電阻，一個電容，一個電感就可以測試電路參數及電量。
zui少可做如下實驗（其它實驗可由設計者和老師及時更新）
　 RC串聯電路阻抗的測量實驗。
　 RC串并聯電路阻抗的測量實驗。
　 RL串聯電路阻抗的測量實驗。
　 RL串并聯電路阻抗的測量實驗。
RLC串聯電路阻抗的測量實驗。
　RLC串并聯電路阻抗的測量實驗。
RLC串聯諧振電路實驗。
　　　　 RLC并聯諧振電路實驗。
　　　4.15 非周期信號諧波測量。
　　　　　 利用信號發生器和帶通濾波進行實驗。
　　　4.16 配置的可變可讀電容資源達到如下要求：
同時能夠使用的電容個數：6個。
　　　　 可得到的電容的電容量范圍：2000PF — 1μF。共有不同電容數值 個數>60個。耐壓不低于50V。
可變電容的使用壽命=固定電容的使用壽命。
4.17 電解電容3個：其中10μF電容1個，100μF電容1個，1000μF電容1個。耐壓不低于25V。
　　　4.18 配置的電感資源達到如下要求：
電感量能夠變化，zui小電感量小于100μH（±10%），zui大電感量大于100mH（±10%）。能夠變化的電感量個數>70個。
　 可變電感的使用壽命=固定電感的使用壽命。
　　　4.19 配置的可變可讀電阻資源達到如下需要：
同時使用的電阻個數：18個，zui小值電阻<35 ?，zui大值電阻>820K ?。每個獨立使用的電阻都是可變的，可變化的數值個數>70個。并提供得到所有這些不同電阻的zui直接和zui簡便的方法( 不需要測量）。所有電阻的額定電壓值不小于10V。
可變電阻的使用壽命=固定電阻的使用壽命。
　　　4.20 配置的三極管資源有：NPN三極管型和PNP型三極管各一個。
　　　4.21 配置的二極管資源有：整流二極管和開關二極管各二個。
　　　4.22 配置外接接線柱6個。
　　　4.22 配置集成電路芯片座8P和14P各1個。
　　　4.23 利用4.16--4.22可以做任意電路實驗