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XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值
XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
技術參數
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
技術參數
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
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