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礦石元素X熒光檢測儀
Ux-210是一款非真空條件下,采用高精度、高分辨率的探測器,根據測試材料自動選擇濾光片,采用適合激發全元素的Mo靶材,搭載FlexFP無標樣定量計算方法,利用X射線熒光原理,測試樣品無損,快速檢測合金額材料中元素成分的光譜儀。
Ux-210采用通用的一條工作曲線,就可以滿足測試常規金屬材料(鐵材、銅材、鋁合金、鋅合金)元素材料分析,判定材料性質特性,是質量部門和品質部材料檢驗的*。
產品應用特點:
1 X射線熒光原理,無損、快速、準確的檢測和鑒定材料成分;
1 銅材、鋼材、鋁合金等1個數據庫全部搞定;
1 FlexFP新技術的應用,無標樣既能分析未樣品;
1 高分辨率探測器,能夠檢測到幾十ppm的元素含量;
1 固體、粉末、液體等樣品可直接測試
1 幾十秒可得出穩定準確的測試數據;
1 測試過程簡單、輸出報告多種格式、查詢篩選統計功能齊全。
應用領域:
2 用于鐵合金、鎳基合金、鈷基合金、鈦合金、銅基合金、高溫合金、鋁合金及各種混雜合金系列成分元素識別和含量測試。
2 用于石油化工、精細化工、農業化工、鍋爐、容器、管道等高溫高壓行業、制藥、電力電站等金屬識別。
2 鐵合金系列:不銹鋼、鉻/鉬合金鋼、低合金鋼、多具鋼
2 銅基系列:青銅、黃銅、銅鎳合金
2 鋁合金:鑄造鋁合金、型材鋁
2 鎳基合金系列:鎳合金、鎳/鈷超合金
2 鈦基合金系列:鉬鎢合金、鈷基合金系列、混雜合金系列。
測試元素范圍:測鐵粉里面的如下元素,鐵(40-70%),鋁(1-10%)硅(1-10%);鋅鈦鈣鎂硫磷(都小于2%)
產品指標:
測試元素范圍:Na-U中的元素;
探測器類型: SDD探測器
探測器分辨率:145eV
高壓范圍:5-50Kv ,50W
X光管參數:5-50Kv,50W,側窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:8種符合濾光片自動切換;
CCD拍照:130萬像素
微移動范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
開蓋方式:隨意自動停
測試樣品種類:液體、固體和粉末
測量范圍:1ppm—99.99%
測量用時:30-200秒
測試環境:非真空測試
數據通訊:USB2.0模式
準直器:?1,?2,?4mm
軟件方法:FlexFP
工作區:開放自定義
樣品腔:300×300×100mm
整機重量:45kg
探測器 | 美國Amptek X-55 Si-PIN探測器 l Be窗厚度:1mil l 晶體面積:25mm 2 l 信號處理系統:DP5 l 最佳分辨率:145eV |
高壓電源 | l 輸出電壓:0~50kV l 燈絲電流:0~2mA l 最大功率:50W l 8小時穩定性:0.05% |
射線管 | l 輸出電壓:0~50kV l 燈絲電流:0~2mA l 最大功率:50W l 靶 材:Mo l Be窗厚度:0.2mm l 使用壽命:2萬小時 |
準直器 | l 多種濾光片、準直器自動切換 l 光斑大小:Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm。可任選4種X射線光斑 |
樣品倉大小 | l 樣品倉大小可定制! 外形尺寸 :510mm×380mm×395mm(H) 樣品倉尺寸 :360mm×330mm×80 mm(H) |
精密度(EC-681K) | Pb ≤ 5ppm,Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 7ppm, Cr ≤ 6ppm, Cd ≤ 5ppm |
準確度(EC-681K) | Pb ≤ 7ppm,Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 5ppm, Cr ≤ 3ppm, Cd ≤ 4ppm |
礦石元素X熒光檢測儀