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上海京燦精密機械有限公司
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Kdesign薄膜測厚儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號

品       牌其他品牌

廠商性質生產商

所  在  地上海

更新時間:2018-06-12 13:58:40瀏覽次數:2074次

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Kdesign薄膜測厚儀KDvision-LAB采用優質電容傳感器,測厚分辨率高達5微米,確保了試驗結果的穩定性與準確性。具有電腦通信接口,通過選購軟件實現數據的存儲、查詢、打印;軟件功能強大,可將成組試驗數據用柱形圖或列表方式進行統計,試結報告可直接在局域網或廣域網中進行傳輸。

Kdesign薄膜測厚儀KDvision-LAB

隨時準備使用,包括觸摸屏電腦用于操作、數據庫和網絡集成。
易于操作和操作,在實驗室和生產中使用

所有非導電塑料材料的非接觸電容測量。
采用集成高精度千分尺自動校準
自動啟動/停止檢測塑料薄膜樣本,各種薄膜切片
易于配置的自動過濾器(褶皺檢測)。
數據導出工具
電容式測量,測量點數可調。
顯示原始數據和過濾數據(%,μm 2σ-3σ)。
采用集成測微計按ISO 4593進行機械測量
不需要導向滾輪組件。

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>Kdesign薄膜測厚儀</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

產品特征Special Features:

Ready to use, incl. Touch-Panel-PC for operating, data base and network integration;

Easy handling and operation;

Non-contact capacitive measurement for all non-conductive plastic materials;

Auto calibration by integrated high-precision micrometer;

Auto start/stop detection of film sample, multi-cut films possible;

Easy configurable auto filters (wrinkle detection);

Data export tools;

Capacitive measuring with adjustable number of points;

Display of raw data and filtered data (%, μm, 2-Sigma, 3-Sigma);

Mechanical measuring according to ISO 4593 by integrated micrometer;

No need of guiding roller assemblies;

數據顯示

技術參數:

薄膜樣品寬度:75-95mm
薄膜樣品長度:可達25m
厚度測量范圍:5微米到500微米
測量速度:可達60mm/S (連續電容模式)
測量間隔:50ms,
分辨率:0.1微米
精度:0.2微米機械/1%電容

薄膜電容式測厚儀采用電容傳感器精度高、能量損耗小、無接觸磨損等特點,制作了符合薄膜厚度測量要求的傳感器探頭,并在此基礎上設計了電容傳感器信號檢測電路。

1、定點測量和掃描測量:

定點測量的位置可在掃描范圍內任意設置。

掃描測量的范圍可根據被測材料的寬度來確定。

2、自動完成定時標定或手動標定,定時標定的時間間隔可設置。

3、位置補償標定。

4、系統故障的自動檢測、顯示和處理。

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