CAMTEK  自動光學檢驗AOI設備 CMOS圖像傳感器檢查

Camtek CMOS圖像傳感器制造商提供了大量環境系統與不妥協的檢測能力。

我們的先進解決方案強加的*挑戰CIS應用程序,如像素尺寸小型化和復雜的生產過程,是基于我們長期積累的經驗在這個市場。

功能

•Sub-resolution檢測™
•動態范圍擴展器和雙照明
•黑場和明亮的場
•先進的低對比度缺陷算法
•細晶片和改造晶片處理
•驗證:在線和離線

技術

•先進的缺陷檢測和計量處理引擎
•高分辨率三維共焦傳感器

產品

頭鷹

頭鷹年代的2 d表面缺陷檢驗和計量系統,實現高容量生產前2 d檢查解決方案和post-bumped晶片,探針標記檢查,OQc等等。

EagleT-i

設計的速度和準確性,Camtek EagleT-i是一個最快的和的2 d檢查工具在市場上。