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北京亞科晨旭科技有限公司
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當前位置:北京亞科晨旭科技有限公司>>化合物半導體-工藝設備>> CAMTEK Eagle-ICAMTEK 自動光學檢驗 Eagle-I

CAMTEK 自動光學檢驗 Eagle-I

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號CAMTEK Eagle-I

品       牌其他品牌

廠商性質生產商

所  在  地北京市

更新時間:2024-09-25 15:58:05瀏覽次數:1146次

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產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 電子
Eagle是大量產的2D檢測設備,采用了CAMTEK自主研發的檢測系統。主要應用領域:CMOS傳感器陣列,LED良率監測,MEMS特殊結構監測,TSV,mBUMP等。大量產的2D檢測適用于部分前道工藝:電鍍bump前后檢測、電測針印大小的檢測、OQC檢測、劃片后的檢測等;

CAMTEK 自動光學檢驗 2D檢測設備  EagleT-I

公司概述

Camtek是一個的開發商和制造商的半導體行業檢驗和計量設備。Camtek的系統檢查和測量晶圓半導體器件的整個生產過程,包括前道封裝,和組裝的檢測Camtek系統檢查晶片是的半導體市場,包括先進互連包裝、內存、CMOS圖像傳感器、微機電系統和射頻,服務行業的全球IDMs OSATs和鑄造廠。

性能Camtek檢驗和計量系統可以在高通量檢測有缺陷的ICs可靠,確保只有known-good-die交付給客戶的最終產品。先進的包裝技術的增長,已被證明是*的解決方案的產品,Camtek提供了各種檢驗和計量技術,可以根據客戶的需求快速高效地幫助他們滿足的要求沒有缺陷的產品以及支持需求增長和投放市場的時間。



主要應用領域:CMOS傳感器陣列,LED良率監測,MEMS特殊結構監測,TSVmBUMP等。大量產的2D檢測適用于部分前道工藝:電鍍bump前后檢測、電測針印大小的檢測、OQC檢測、劃片后的檢測等

產品優勢

基于CAD圖層檢測;

的圖像銳化功能;

可以檢測RDL后小到2um線寬;

兼容檢測方片、翹曲片;

可以檢測小到0.2um的表面缺陷;

多重放大倍數,提高檢測能力。



1. Eagle-I

Eagle是大量產的2D檢測設備,采用了CAMTEK的檢測系統。

 

大量產的2D檢測適用于部分前道工藝:

• 電鍍bump前后檢測;

• 電測針印大小的檢測;

• OQC檢測;

• 劃片后的檢測等;

同時又適用于器件的檢測:

• CMOS 圖像傳感器;

• MEMS特殊結構監測;

LED良率監測等。




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