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日本AND BM-200自動微量分析天平(內校)

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  • 所在地 上海市
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更新時間:2023-07-28 21:58:23瀏覽次數:305

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產品簡介

日本AND BM-200自動微量分析天平(內校)追求高精度計量:Z高精度可達2500萬分之一,采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃,解決靜電產生的問題

詳細介紹

日本AND BM-200自動微量分析天平(內校)特點:
?  zui小顯示精度1μg(BM-20/BM-22)
    元素分析/煙塵分析/環境測定/生化相關實驗/微量分析測量

?  網格狀稱盤(BM-20/BM-22)
    配置不容易受風影響的網格狀稱盤

?  橫向滑動門控操作
    左手可控制右側門開啟,方便兩手同時完成門控與樣品放置動作

?  操作性良好的稱量室空間
    稱量臺雙環設計,無需兩層防風罩,從而在確保高精度的同時提供了更大的稱量空間,滿足大樣 品的稱量要求。

?  兩種通信方式
    標配RS-232CUSB接口,天平可同時連接:電腦與打印機電腦和數據記錄器電腦和外部顯示器兩種不同輸出設備。(另外還配備了外部開關接口)


日本AND BM-200自動微量分析天平(內校)?  標配Windows測量軟件

?  強大數據存儲功能
    可儲存達200組數據(100組帶時間日期的數據)或50組校準數據

?  內置自動校準砝碼,可一鍵校準

?  GLP/GMP/GCP/ISO格式輸出

?  百分比功能

?  大型高清晰白色背光LCD顯示

產品規格

 

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