當前位置:深圳市恩陽電子有限公司>>電感耦合等離子體光譜儀>> ICP-3200電感耦合等離子體發射光譜儀
等離子體發射光譜分析法是光譜分析技術中,以等離子體炬作為激發光源的一種發射光譜分析技術。其中以電感耦合等離子體(inductively coupled plasma,簡稱為ICP)作為激發光源的發射光譜分析方法,簡稱為ICP-OES,是光譜分析中研究zui為深入和應用zui為廣泛、有效的分析技術之一。
電感耦合等離子體發射光譜儀ICP-OES的分析原理: 電感耦合等離子體焰矩溫度可達6000~8000K,當將試樣由進樣器引入霧化器,并被氬載氣帶入焰矩時,則試樣中組分被原子化、電離、激發,以光的形式發射出能量。不同元素的原子在激發或電離時,發射不同波長的特征光譜,故根據特征光的波長可進行定性分析;元素的含量不同時,發射特征光的強弱也不同,據此可進行定量分析,其定量關系可用下式表示:I=aC^b式中:I—發射特征譜線的強度;C—被測元素的濃度;a—與試樣組成、形態及測定條件等有關的系數;b—自吸系數,b≤1
ICP3200全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀是天瑞儀器繼ICP3000成功推出后,推出的又一款全新概念、創新的雙向觀測ICP-OES,融合變頻電源技術、智能光路切換技術、譜線深度處理技術,可實現基于雙向觀測的定量與定性分析處理。
強大的軟件分析功能
逐步向導式,輕松建立分析方法,輕松完成測量,易學易懂。
智能光學校準算法,可自動校準二維光譜位置,無需重復譜峰校準即可進行測量,保證準確測量的同時節約大量的溶液和時間。
多樣品結果集管理,方便用戶對樣品歸類集合,便于結果查詢和離線處理。
*的多峰擬合技術,在處理復雜基體時,可將分析信號從測量光譜中提取出來,消除干擾元素影響,增加測量的準確度。
雙向觀測光路智能定位
開機后可根據需要選擇調節模式,智能定位垂直炬雙向觀測位置。并且在方法開發中無需針對未知樣中的元素選擇分析模式,在選擇測量元素和波長后,軟件根據大數據庫對信息將儀器自動切換到測量模式,大大減少測量時間,提高測量效率。
自動校正特征譜線位置
全譜直讀ICP3200分析軟件采用天瑞團隊自主研發的自動校峰算法,方法基于三坐標映射可快速標定二維光譜波長,無需重復校峰操作。
*的定性分析算法
全譜直讀ICP3200分析軟件采用天瑞儀器*定性分析技術,方法中針對復雜基體,依次甄別主含量元素、次主含量元素,以此為判斷先驗條件來判斷未知元素是否存在。
同時采用多元高斯擬合算法大大減少干擾對待定元素譜線的誤判。
軟件采用概率顯示分析結果,大幅提高了定性分析準確度。
應用領域
環保行業、石化行業、冶金行業、玩具行業、地礦行業、貴金屬行業、稀土行業
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。