武漢華科達實驗設備有限公司
主營產品: 電子天平,離心機,凈化工作臺,顯微鏡,低溫保存箱 |
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參考價 | 面議 |
更新時間:2016-03-14 16:55:19瀏覽次數:573
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華科達實驗設備為您提供優(yōu)質的梅特勒電子天平XS3DU介紹如下:
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的稱量性能,*基礎稱量應用:在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中*的重復性可低至0.8 μg,是獲得理想的稱量可靠性的關鍵,避免不必要的重復測試,顯著地降低了樣品和時間的浪費。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。
標準配置
內置稱量應用程序
TouchScreen觸摸屏,方便天平稱量和參數設置
SmartTrac彩色動態(tài)圖形顯示器:圖形稱量輔助,跟蹤稱量范圍和公差
可設置多達10個特定功能的快捷鍵
可定義3個的信息,用于用戶和樣品標識
內置RS232C和兩個輔助接口;用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件,實現無需用手接觸的稱量操作
第二接口選件插槽;例如LocalCAN,以太網,RS232,MiniMettler,藍牙或PS/2等接口選件
手動開關門的玻璃防風罩
可更換的顯示屏保護蓋
下掛鉤稱量
具有過載保護的稱量傳感器
顯示多種質量單位
差重稱量應用程序
計件和百分比稱量應用程序
統(tǒng)計應用程序
技術指標
極限值
XS3DU 雙量程
zui大稱量值
3.1 g
可讀性
0.01 mg
zui大稱量值
0.8 g
可讀性
0.001 mg
重復性(sd) - 加載處
0.006 mg
- 低加載(加載處)
0.005 mg (0.2 g)
重復性(sd) - 加載處
0.001 mg
- 低加載(加載處)
0.0008 mg (0.2 g)
線性誤差
0.004 mg
四角誤差(加載處)1)
0.005 mg (2 g)
典型值 4)
典型重復性(sd)
0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非線性(sd)
√2x(10-12)g·R_nt
典型微分四角誤差(sd)
1.2 x (10–6)•R_nt
典型靈敏度偏移(sd)2)
3 x (10–6)•R_nt
典型zui小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)
0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型穩(wěn)定時間
< 6 sec
穩(wěn)定時間
< 10 sec
1) 根據OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內
3) *次安裝,使用proFACT校準,靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重(樣品質量) a=年
* 重復性和zui小稱量值可以通過以下措施得以改進:- 選擇適當的稱量參數設置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。
梅特勒電子天平XS3DU行業(yè)補充說明:
維護保養(yǎng)
1、將天平置于穩(wěn)定的工作臺上避免振動、氣流及陽光照射電子天平。
2、在使用前調整水平儀氣泡至中間位置。
3、電子天平應按說明書的要求進行預熱。
4、稱量易揮發(fā)和具有腐蝕性的物品時,要盛放在密閉的容器中,以免腐蝕和損壞電子天平。
5、經常對電子天平進行自校或定期外校,保證其處于*狀態(tài)。
6、如果電子天平出現故障應及時檢修,不可帶“病”工作。
7、操作天平不可過載使用以免損壞天平。
8、若長期不用電子天平時應暫時收藏為好。
XS3DU售后服務政策:
1.我公司生產或經銷的產品,無論用戶在何地,一律按照產品說明的保修期提供保修服務滿足用的各種需求。
2.產品保修期內,在正常使用的情況下出現任何產品的故障,經驗證屬實,可免費維修儀器或更換零部件;但因使用不當、濫用、誤用或因自然災害造成的故障,不屬于免費保修范圍,我公司可提供維修服務,只收取所更換零部件的成本費用;保修期外,出現儀器故障將及時維修,維修費免除,只收取成本費。
3.本公司售后服務產品,保修期均為12個月,終身維護使用。
BSA124S賽多利斯電子天平 * ¥ 7320
BSA224S賽多利斯電子天平 * ¥ 13910
BSA124S-CW賽多利斯全自動內校電子天平 ¥ 15190
BSA224S-CW賽多利斯全自動內校電子天平 ¥ 17690