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高低溫沖擊試驗箱滿足的標(biāo)準(zhǔn)說明
高低溫沖擊試驗箱具有很強(qiáng)的適應(yīng)性，設(shè)有多種機(jī)型來適應(yīng)不同的試驗要求，可劃分為：空氣間溫度沖擊試驗箱、兩箱到三箱以及兩種到三種溫度的沖擊箱（高溫、常溫和低溫）。箱體的大小從27立升到1000立升不等。PLC控制系統(tǒng)和顯示器的操作界面可事先設(shè)置好循環(huán)試驗的參數(shù)，使其自動完成試驗全過程。
高低溫沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣的特殊性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，GP/3TS系列既可作冷熱沖擊試驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、軍用單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
本設(shè)備滿足：
ØGB/T2423.22-87Na
ØGJB_150.1-86_軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法_總則
ØGBT23682-2009制冷系統(tǒng)和熱泵軟管件、隔震管和膨脹接頭要求、設(shè)計與安裝
ØGB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗A：低溫試驗方法；
ØGB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗B：高溫試驗方法；
ØGB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗：高溫試驗方法
ØGJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法
ØGJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法
ØGJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法》
ØGJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗：恒定濕熱試驗》
ØGJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗：交變濕熱試驗》
ØGJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》
ØGB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》
ØGB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
ØGB/T10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》
ØGB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》