波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)成分的儀器。它利用X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的特征性熒光輻射進行分析。
40 多年來，Rigaku Simultix 同步波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)(例如鋼鐵和水泥)過程控制的元素分析工具。近 1,000 臺 Simultix 波長色散X射線熒光光譜儀已交付給全球客戶。隨著這些年的技術(shù)進步，客戶的要求也變得*和多樣化。Simultix 15 波長色散X射線熒光光譜儀專為滿足這些不斷變化的需求而開發(fā)。它提供了顯著改進的性能、功能和可用性。緊湊而智能的 Simultix 15 是一款功能強大的元素分析工具，在許多工業(yè)領(lǐng)域都表現(xiàn)出的性能。
波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)成分的儀器。它利用X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的特征性熒光輻射進行分析。以下是該光譜儀的介紹要點：
1.基本原理：通過將入射X射線經(jīng)過晶體衍射分散成不同波長的光線，然后使用探測器測量這些不同波長的熒光輻射強度。每種元素都有其特定的熒光輻射波長，通過測量這些波長可以確定樣品中不同元素的存在及其相對含量。
2.儀器組成：典型的波長色散X射線熒光光譜儀包括X射線源、樣品支架、晶體衍射器、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。X射線源產(chǎn)生高能X射線，樣品放置在支架上進行分析，晶體衍射器用于分散入射X射線，而探測器則用于測量熒光輻射強度，并將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)進行分析和解釋。
3.分析應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、金屬分析等領(lǐng)域。它可以快速、非破壞性地確定樣品中的元素成分，具有高靈敏度和較廣的測量范圍。
4.優(yōu)勢和限制：具有高分辨率、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性的優(yōu)點。然而，它在低濃度元素檢測方面可能受到背景干擾的限制，并且對于非常輕的元素(如氫和鋰)的分析能力相對較弱。
總之，波長色散X射線熒光光譜儀是一種重要的分析工具，可用于快速、準(zhǔn)確地確定物質(zhì)中的元素成分，并在許多科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域發(fā)揮作用。
XRF 用于快速、精確的元素分析
分析幾乎任何樣品基質(zhì)中的鈹 (Be) 到鈾 (U)。自動化過程控制最重要的指標(biāo)是精密度、準(zhǔn)確度和樣品吞吐量。具有多達 30 個(和可選的 40 個)離散和優(yōu)化的元素通道和 4 kW(或可選的 3 kW)X 射線管功率，可提供的分析速度和靈敏度。結(jié)合功能強大但易于使用的軟件，具有廣泛的數(shù)據(jù)簡化功能和維護功能，該儀器是的元素分析計量工具。
自動化的 XRF 元素分析
對于高吞吐量應(yīng)用程序，自動化是一項基本要求。可配備 48 位自動進樣器 (ASC)。對于全自動化，可選的樣品加載單元提供來自第三方樣品制備自動化系統(tǒng)的右側(cè)或左側(cè)傳送帶進料。
通過同步 WDXRF 進行元素分析
特征
合成多層，RX-SERIES
新型合成多層晶體“RX85"產(chǎn)生的強度比現(xiàn)有的 Be-Ka 和 B-Ka 多層晶體高約 30%。
XRD通道
Simultix 15 配備 XRD 通道，可以通過 XRF 和 XRD 進行定量分析。
雙曲面水晶
可選的雙曲面晶體可以配備到固定通道。與單曲面晶體相比，雙曲面晶體的強度增加。
改進的軟件易于使用
Simultix 15軟件采用與ZSX軟件相同的定量分析流程條，增強了定量條件設(shè)置的可操作性。
重型和輕型掃描測角儀
可選的寬元素范圍測角儀支持無標(biāo)樣半定量(FP)，可用于非常規(guī)元素的定性或定量測定。
微量元素的 BG 測量
固定通道的可選背景測量 (BG)，從而改進校準(zhǔn)擬合和的精度。
自動壓力控制 (APC)
可選的 APC 系統(tǒng)在光學(xué)室中保持恒定的真空度，以顯著提高輕元素分析精度。
定量散射比法
當(dāng)使用康普頓散射比法進行礦石和精礦分析時，可選的定量散射比法生成用于散射比校準(zhǔn)的理論 alpha。
多達 40 個固定頻道
標(biāo)準(zhǔn)的 30 個固定通道配置，可以選擇升級到 40 個通道。
自動化
可選的樣品加載裝置提供來自第三方樣品制備自動化系統(tǒng)的傳送帶進料。
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