當前位置:北京北信科遠儀器有限責任公司>>無損故障>>探傷儀>> BX-G2517便攜式超聲波檢測儀
產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 其他 | 應用領域 | 電子,交通,綜合 |
關鍵詞:BX-G2517便攜式超聲波檢測儀
超聲波專業(yè)探傷儀 探測超聲波的儀器 高精度超聲波探傷儀 多用途超聲波檢測儀 便攜式超聲波檢測儀
■儀器特點:
A 特優(yōu)點
a.全中文菜單式友好操作界面,方便快捷;
b. 超高亮彩色液晶顯示,可根據不同現(xiàn)場環(huán)境改變;
c. 超聲衍射波成像檢測,解決傳統(tǒng)放射檢測的掃查
厚度及檢測效率局限性,節(jié)約探傷成本;
d. 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、
導波成像等多能一體;
e. du有合成孔徑聚焦技術,領潮行業(yè),有效提高缺陷
測量精度;
f. 波形相位穩(wěn)定,信噪比高,缺陷識別更清晰;
g. 內置現(xiàn)場檢測工藝模型,自動生成檢測工藝;
h. 便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各
種工件檢測要求;
i. 多通道TOFD檢測實現(xiàn)大厚壁焊縫一次性全面覆蓋;
j. 超大機內存儲空間及便捷的文件網絡傳輸功能;
k. 高分子復合材料機身,有效防震、抗跌落;
l. 集成數據電纜,裝卸方便,信號傳輸損耗小;
m. 高性能安保鋰電,模塊插接,一機兩電,超長續(xù)航。
B探傷功能
掃查方式:對焊縫進行全面非平行、平行掃查;
缺陷定位:分析軟件直接讀出缺陷位置、深度、自身高度;
缺陷顯示:直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點;
A型掃描:射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力;
B掃成像:實時顯示缺陷截面形狀;
C掃成像:實時顯示缺陷俯視成像;
D掃成像:實時顯示缺陷的灰度掃查圖,直觀顯示缺陷并對
缺陷質量進行評價;
P掃成像:實時空氣超聲定位,對缺陷進行三維描述,提高
缺陷判性準確率;
導波成像:對薄壁工件進行一維掃查,獲取二維成像。
C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內的分區(qū)
掃查;可擴展至400mm厚度。
D 數據分析
直通波去除:近表面缺陷專用處理工具,提高近表缺陷分析精度;
橫豎調整:滿足不同現(xiàn)場操作習慣;
SAFT:guo際公ren有效提高缺陷測量精度的功能。
E數據存儲與輸出
a.預先調校好各類探頭與儀器的組合參數,方便存儲、調出、離線分析、
復驗、打印、通訊傳輸。
b.超大內存容量,單次掃查最多可記錄40米。
c.掃查圖像、文件可根據使用要求自動保存、自動編名。
d.支持雙USB拷貝、網絡傳輸、外接顯示器等。
■技術參數:
頻帶寬度:0.3-22MHz
脈沖電壓:-400V
脈沖前沿:<10ns
重復頻率:1000Hz(每通道)
平均次數:8
采樣深度:512,1024
匹配阻抗:25,500
檢波方式:數字檢波
增益范圍:0dB-110dB波形顯示方式:射頻波,檢波(全檢、負或正半檢波),信號頻 譜(FFT)
掃描延時:0~500us可控0.008us精度
掃查定位:時基(內置實時時鐘-0.02秒精度)/真實位置(增量編碼器-0.5mm精度)
成像模式:根據選擇的操作模式和相應的儀器配置及設置顯示連續(xù)A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導波成像
直線掃查長度:0-40米
記錄方式:wan全原始數據記錄
離線分析:恢復和回放掃查時記錄的A掃波形
缺陷尺寸測量和輪廓描述
厚度/幅度數據統(tǒng)計分析
記錄轉換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel
數據報告:直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導波檢
工作環(huán)境:
工作溫度:-10 ~ 50℃
存儲溫度:-20℃ ~ 60℃
相對濕度:不超過85%
工作電壓:DC24V
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