詳細介紹
該自動化功能為新手操作員減輕了學習難度,減輕了多用戶環境中的壓力,并為經驗豐富的操作員縮短了數據獲取時間。可以將側面入口可伸縮能量色散X射線光譜(EDS)檢測器添加到配置中,以進行化學分析。Talos F200i較小的占地面積和尺寸便于在更具挑戰性的空間中容納此工具。此外,這種緊湊的設計簡化了對服務需求的訪問,同時還降低了基礎架構和支持成本。
產品特點
雙 EDS 技術可實現:從單 30 mm² 探頭到可實現高通量(或低劑量)分析的雙 100 mm² 探頭,可根據您的需求選擇 EDS 。
高質量S/TEM 圖像和準確的 EDS:借助創新直觀的 Velox 軟件用戶界面,可通過極其簡單的操作方法,獲得高質量 TEM 或 S/TEM 圖像。Velox 軟件內置的*的 EDS 吸收校準功能可實現定量分析 。
原位分析功能:加裝三維重構或原位分析樣品桿。高速相機、智能軟件和我們的大 X-TWIN 物鏡間距可實現3D成像和原位數據采集,同時大限度避免分辨率和分析能力的損失。
提高生產效率,超穩定鏡筒:借助 SmartCam 和恒定功率 物鏡實現的遠程操作,用于快速的模式和高壓切換。輕松 快速切換,適用于多用戶環境 。
可重復性的數據:所有日常TEM合軸(例如,聚焦、 共心高度調節、電子束偏轉、聚光鏡光闌器對中、電子束 傾斜和旋轉中心)自動完成,確保每次開始使用時都具有成像條件,實驗可反復重現,使您可以更多關注研究工作本身,而非所用設備。
高速大視野成像;4k×4k Ceta CMOS 相機具有大視野,能夠在整個高壓范圍實現高靈敏度、高速數碼縮放 。
緊湊型設計:本設備具有更小的尺寸和占地面積,有助于在更具挑戰性的空間內安裝,同時降低安裝和支持成本。
參數
TEM 線分辨率 | ≤0.10 nm |
TEM 信息分辨率 | ≤0.12 nm |
LACBED 大會聚角 | ≥100 mrad |
大衍射角 | 24° |
STEM 分辨率 | ≤0.16nm |
EDS | 側插式,可伸縮 |
電子槍類型 | 場發射槍或高亮度場發射槍 |
控制器 | Windows® 10 |
氣密泵送 | 無油、無振動 |
能譜探頭尺寸 (Bruker X-flash) | 30、100 和雙 100可另選其他尺寸和品牌產品。 |
可伸縮 | 是,電動
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產品料號 | 產品貨號 | *產品名稱 | *產品規格 |
TFE000124 | TFE000124 | Talos F200i 透射電鏡 | Talos F200i |