詳細介紹
上海恒平紫外可見分光光度計(比例雙光束)UV2400
生產廠家:H|舜宇恒平
參考價格:18000
UV2400系列比例監測雙光束紫外-可見分光光度計,采用新型的光學結構及C-T式單色器以及優質的電路系統設計,使儀器具有波長精度高,重復性好,雜散光低及長時間的穩定性和高性價比,可滿足各種層次的分析應用所需,若配上軟件,可與PC連接,實現更多的測試功能包括數據海量存貯。
功能
自動扣除比色皿誤差
自動波長:鍵盤輸入zui小間隔為0.1nm。
光度測量:定波長測試透過率、吸光度和系數吸光度及能量的測量。
定量測定:單波長法,1-3階線性標準曲線擬合,zui多可建立9個標樣點的標準曲線。
多波長測定:具有可設5個波長的設定,對同一樣品連續測定。
特點
自動八聯池:一次可放7個樣品大大提高測樣分析速度。
自動扣除比色皿誤差:使測光準確度(被測樣濃度較低時)更為準確。
光譜帶寬小:單色光純儀器分辨率高。
超低雜散光:使高濃度樣品測試更準確。
持久的穩定性:比例監測雙光束光路、電路系統,確保儀器長時間的穩定。
顯示及操作:液晶屏顯示器、菜單化工作界面、人性化設計、用戶操作簡單。
燈源更換簡單方便:法蘭盤座式氘燈結構,更換氘燈無需工具,免去換燈時光路調試步驟,使儀器調試、維護更加簡單。
具有USB接口:配上軟件可與PC機相連,擴至多種測試功能(光譜掃描、動力測定等)包括數據的數量貯存。
型 號 | UV2400 |
光學系統 | 比例監測雙光束 |
光譜帶寬 | 1.8nm |
波長范圍 | 190~1100nm |
波長zui大允許誤差 | ±0.5nm |
波長重復性 | ≤0.2nm |
光度范圍 | T:0~200.00%T A:-0.301~4.000Abs |
透射比zui大允許誤差 | ±0.3%T |
透射比重復性 | ≤0.1%T |
雜散光 | ≤0.05%T(220nm、340nm處) |
基線平直度 | ±0.002A |
漂移 | ≤0.001A/h (500nm處) |
噪聲 | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) |
顯示器 | 128×64大屏幕液晶顯示 |
外形尺寸 | 540x445x230(mm) |