一鍵式光學測量儀簡單介紹：

基于光學成像的尺寸測量儀器在制造領域應用廣泛，傳統的光學尺寸測量儀器包括工具顯微鏡、投影儀、影像測量儀（二次元）等，都存在檢測效率低、人為操作誤差、人員技能要求高、數據難以信息化等各種問題。 本產品為新一代影像尺寸測量系統，通過遠心光學系統、高速信號采集處理、高精度圖像處理算法、智能化UI軟件設計等技術，實現了對物體二維尺寸的快速成像測量，有效地解決了一次成像范圍與測量精度的矛盾，大幅度提高了檢測效率和測量精度，消除了人為誤差，人員操作簡便，實現了精密測量的自動化和智能化。

一鍵式光學測量儀詳情介紹：

基于光學成像的尺寸測量儀器在制造領域應用廣泛，傳統的光學尺寸測量儀器包括工具顯微鏡、投影儀、影像測量儀（二次元）等，都存在檢測效率低、人為操作誤差、人員技能要求高、數據難以信息化等各種問題。

本產品為新一代影像尺寸測量系統，通過遠心光學系統、高速信號采集處理、高精度圖像處理算法、智能化UI軟件設計等技術，實現了對物體二維尺寸的快速成像測量，有效地解決了一次成像范圍與測量精度的矛盾，大幅度提高了檢測效率和測量精度，消除了人為誤差，人員操作簡便，實現了精密測量的自動化和智能化。

一、一鍵式光學測量儀技術參數：

型號：HK-200VC

測量范圍(mm)：180×150。

調焦行程（mm）：50。

測量精度（μm）：±10。

重復精度（μm）：±4。

景深（mm）：300

光學系統：500萬像素CCD；雙遠心工業鏡頭； 遠心平行背光源、LED環形正面光源。

軟件：專機快速閃測Easson軟件。

接口：GigE ×1（雙視野型號×2），RS 232 ×1，及其他可擴展接口。

電源：AC 220V，50Hz。

工作環境：溫度15-25℃；濕度30%-80%；振動<0.002g, 15Hz。

二、一鍵式光學測量儀主要特性

精準穩定快速：雙遠心光路結合圖像畸變校正、亞像素數值處理算法，實現高精度、高穩定性尺寸測量；精密電動平臺配合可快速更換及實時調節的正面照明系統，滿足用戶對復雜表面尺寸的準確測量。

光學畸變校正：在高精度圖像尺寸測量應用中，鏡頭畸變校正具重要意義，即使是細微的畸變，也會造成精度嚴重滑坡。只有真實的圖像才能真實地反映物體的真實形態。但是鏡頭畸變是透鏡的固有失真造成的，實際應用中，還與鏡頭的精度、質量、生產廠商有著種種關聯，是不可避免的。通常的鏡頭畸變主要為非線性畸變，包括了徑向畸變和切向畸變。常見的桶形畸變和枕型畸變正是由徑向畸變所造成的。而切向畸變是理想點沿著切線方向發生變化導致的，也可以理解為角度方向上的變化。因此，本產品對基于非線性技術的光學系統畸變校正算法進行了研究，以提高測量精度以及測量效率。將非線性畸變參數作為相機的內部參數之一，通過對初值的獲取，聯合其他的內部參數一并在非線性深度優化求解過程中獲得。zui終利用得到的誤差補償函數的系數矩陣和徑向畸變參數，實現鏡頭畸變的誤差校正，有效改善了鏡頭畸變造成的檢測誤差，滿足工業測量過程中的實時性和高精度要求。

圖像加速處理：由于一鍵式圖像尺寸測量儀測量精度高、速度快，所用的各種算法時間復雜度高，數據量大，算法中存在大量的細粒度計算，對系統處理速度要求*，常規的單核處理方式顯然無法滿足其應用需求。因此，我們的技術團隊開發了基于多核、多CPU、GPU（Graphics Processing Unit，圖形處理器）加速等方式的圖像加速處理算法，利用并行式處理，結合GPU的通用計算來加速圖像處理計算中的輪廓匹配、亞像素精度幾何測量算法等，在保證測量精度的前提下，提高系統運算速度。

柔性智能：點、線、圓等測量元素的智能組合，可靈活調用修改，減少規劃工作量；測量數據可實時SPC統計分析，并以Excel、PDF 、Word、圖片等格式保存；可智能識別被測產品并自動調用檢測檔案，無需人工搜索選擇，快速切換產品；特定要素測量工具可定制，CAD交互、輪廓比對等功能可定制。

適用性廣：固定視野型具有立式、臥式兩大系列，適用平面及回轉體工件，產品量程覆蓋20-200mm，滿足不同規格類型產品測量；同時具備運動平臺式型號，結合光柵示數的運動平臺進一步擴充測量范圍；軟硬件接口豐富，可集成各類測量傳感器、自動化機構及數字化管理軟件，組成自動化智能化系統。

自主產權：本產品具自主知識產權，成像組件均采用高性能進口產品，圖像處理算法技術*自主開發，為用戶提供更好的性價比選擇、更快速及時的技術服務，且避免了盜版等法律風險。

簡便高效：大視野高景深成像，無需定位工件及夾具，單次測量周期為1-2s，效率是傳統設備的數十倍；只需設置匹配特征、規劃測量項目兩個準備步驟，即可實現多產品、多尺寸批量測量；避免了傳統影像測量儀繁雜的操作流程，生手經短時間培訓即可熟練操作。