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產品簡介
詳細介紹
一、三箱式冷熱沖擊試驗箱特點名詞解析
三箱式冷熱沖擊試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、航天、兵工業、BGA基扳、電子芯片、IC半導體陶瓷及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密IC到重機械的組件，無一不需要它，是理想測試工具.冷熱沖擊試驗機，用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度，可作為其產品改進的依據或參考。
二、三箱式冷熱沖擊試驗箱特點型號與技術參數
JR-WD-50 JR-WD-80 JR-WD-100 JR-WD-150 JR-WD-250 JR-WD-480
內部尺寸 HxD(mm)
50L:360×350×350 80L:500×400×400 100L:600×400×400
150L:600×500×500 250L:700×600×600 480L:800×800×750
外部尺寸HxD(cm)
50L:1560×1750×1440 80L:1700×1800×1440 100L:1800×1800×1440
150L:1800×1900×1540 250L:1900×2000×1640 480L2020×2250×2150
溫度范圍：低溫(B：-40;C：-55;D：-65)~高溫+150℃
高溫區：+60℃~+200℃
低溫區：-10℃~-75℃;
升溫時間(蓄熱區) ：RT~200℃約需35min
降溫時間(蓄冷區) ：RT~-70℃約需85min
溫度恢復時間/轉換時間： ≤5min內 / ≤10sec內
溫度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃
三、參照標準
GB/T2423.1-1989 電工電子產品基本試驗規程試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-1989電工電子產品基本試驗規程試驗B：高溫試驗方法
GJB360.7-87 溫度沖擊試驗
SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗箱—箱式
GJB150.3-86 GJB150.5-86
GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗箱，電子產品冷熱沖擊試驗箱，電子產品冷熱沖擊試驗機
四、操作流程
一般來說，三箱式冷熱沖擊試驗箱操作分為五部走：預處理、初始檢測、試驗、恢復、zui后檢測。下面杰瑞設備和大家一起分享一下詳細流程內容：
1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩定。
2.初始檢測：將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入三箱式冷熱沖擊試驗箱內即可。
3.試驗：
1)試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內,并將試驗箱(室)內溫度升到點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長度為準。
2)高溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節到-55℃的低溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長度為準。
3)低溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節到70℃的高溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長度為準。
4)重復上述實驗方法,以完成三個循環周期。根據樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。
4. 恢復：試驗樣品從試驗箱內取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩定。
5.zui后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。