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LZ-200J 日本kett膜厚計

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更新時間:2016-07-03 20:21:24瀏覽次數:486

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產品簡介

LZ-200J采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。該產品內置打印機,可打印數據,有四個統計功能。

詳細介紹

LZ-200J 采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。該產品內置打印機,可打印數據,有四個統計功能。

 

 

電磁式と渦電流式の両機能を備え、しかもプリン タを內蔵したポータブルタイプの膜厚計です。 磁性金屬上および非磁性金屬上のさまざまな被 膜厚測定にすばやく対応します。ボタンひとつ で平均値?標準偏差?zui大値?zui小値が求められる 統計計算機能、キャリブレーション?メモリ機能、 リミット設定機能などを裝備しています。

●仕様LZ-200J
測定方式電磁誘導式/渦電流式兼用
測定対象磁性金屬上の非磁性被膜および非磁性金屬上の絶縁被膜
測定範囲電磁式:0~1500μmまたは60.00mils
渦電流式:0~800μmまたは32.00mils
測定精度電磁式:15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
渦電流式:50μm未満:±1μm、50μm以上:±2%
分解能100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm
適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能測定回數?平均値?標準偏差?zui大値?zui小値?ブロック番號
プローブ一點接觸定圧式(LEP-J、LHP-J)
表示方法デジタル(LCD、表示zui小桁0.1μm)
外部出力RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps)
電源AC100V(50/60Hz)または
電池1.5V(単3アルカリ) 本體部×6、プリンタ部×4
寸法?質量120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
付屬品標準板、鉄素地、アルミ素地、標準板ケース、電池1.5V(単3アルカリ)、ACアダプタ、 プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプションL字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」


 

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