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標(biāo)稱內(nèi)箱尺寸（mm）：W 500×H 600 ×D 500             標(biāo)稱內(nèi)容積(L)：150 L

觀察窗可視范圍（mm）：W 260×H 350 數(shù)量： 1個(gè)

溫度范圍：－40℃～+150℃
濕度范圍：20 %～98 % RH(標(biāo)準(zhǔn)型)
濕度偏差度：±3%RH
溫度波動度：±0.5℃

升溫速率: RT+20℃ ~ +150℃≤45 min  

降溫速率: RT+20℃ ~ -40℃ ≤50 min 

執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn)：

中國國家標(biāo)準(zhǔn)分為強(qiáng)制性國標(biāo)（GB）

和推薦性國標(biāo)（GB/T）

中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB 10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件  
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB 10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  　  
電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗(yàn)方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱  
電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷  
電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱  
美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度  
美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫  
美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫  
美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)  
美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2  
美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3  

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-3-1987 試驗(yàn)Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)  
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-2-1995 試驗(yàn)B:干熱  
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn)A:低溫  

美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗(yàn)  
美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗(yàn)  

美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗(yàn)  

中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫  
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫  
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗(yàn)方法  
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)  
中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法  

中國國家軍用環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗(yàn)

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)， GJB4-2-83 高溫試驗(yàn)
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)， GJB4-3-83 低溫試驗(yàn)
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)， GJB4-4-83 低溫儲存試驗(yàn)
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)， GJB4-5-83 恒定濕熱試驗(yàn)
艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)， GJB4-6-83 交變濕熱試驗(yàn)

滿 足 標(biāo) 準(zhǔn)：GB/T5170.2-1996           溫度試驗(yàn)設(shè)備

            GB/T5170.5-1996      濕熱試驗(yàn)設(shè)備

            GB/T2423.1-2001           高低溫濕熱試驗(yàn)設(shè)備

滿 足 標(biāo) 準(zhǔn)：GB-T10589-2008     低溫箱技術(shù)條件

            GB-T10586-2006     濕熱箱技術(shù)條件

            GB/J545860-2005    高低溫濕熱試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件主營產(chǎn)品：
自主品牌：鹽霧腐蝕試驗(yàn)機(jī)、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)、鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、復(fù)合式鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、鹽干濕鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、觸摸屏鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、溫升試驗(yàn)機(jī)、溫升測試系統(tǒng)、IPX1/2/3/4/5/6/7/8 3k 6k 9K全系列淋雨試驗(yàn)裝置、擺管滴水試驗(yàn)裝置、箱式淋雨試驗(yàn)裝置、強(qiáng)沖水試驗(yàn)裝置、水浸試驗(yàn)機(jī)、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、低氣壓試驗(yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、電磁振動試驗(yàn)臺、電子振動試驗(yàn)臺、沙塵試驗(yàn)箱、紫外線老化試驗(yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)箱、氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、溫濕度振動三綜合試驗(yàn)箱、烘箱烤箱、機(jī)械振動試驗(yàn)臺、跌落試驗(yàn)臺、拉力試驗(yàn)機(jī)、材料試驗(yàn)機(jī)。來函訂做各類非標(biāo)模擬環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。

進(jìn)口試驗(yàn)儀器設(shè)備：進(jìn)口美國環(huán)測、美國熱測、法國克萊梅、德國偉思、德國富奇、意大利ACS、日本愛斯佩克、韓國ITC、美國UD、美國LDS等進(jìn)口鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱，恒溫恒濕試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，耐塵試驗(yàn)機(jī)，耐水試驗(yàn)機(jī)，耐光試驗(yàn)機(jī)，耐磨試驗(yàn)機(jī)，電磁振動試驗(yàn)臺，跌落試驗(yàn)臺【進(jìn)口環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備銷售、進(jìn)口環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備配件銷售、進(jìn)口環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備維修、進(jìn)口環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備保養(yǎng)等】。

進(jìn)口試驗(yàn)儀器設(shè)備耗材：美國PTI試驗(yàn)粉塵、德國DMT試驗(yàn)粉塵(滿足ISO/IEC/JIS試驗(yàn)粉塵)，日本愛斯佩克ESPEC濕球紗布WG-104H(WG-4H)/FW-103E(FW-3E)，鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱玻璃噴嘴等等。