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bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統，配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200還配有業界先進的操作和分析軟Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。
優質的測量與分析功能
·易于使用的界面，可快速準確地獲得結果
·自動化功能用于日常測量和分析
·廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析
·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告
先進計量設備
·基于超過四十年的專有WLI創新，ContourX-200光學輪廓儀展現出定量計量所需的低噪聲、高速、高精度的準確結果。
·通過使用多個鏡頭和集成的特征識別功能，設備可以在各種視野內以亞納米垂直分辨率跟蹤特征，可用于各種不同行業中的質量控制和過程監控應用。
高性能表面計量
·放大倍率無關的業界好Z軸分辨率
·大尺寸的標準視場
·穩定集成防震設計
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