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復雜容器雷達物位計【CDRD530 型】-廠家供應

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更新時間:2019-07-31 16:45:46瀏覽次數:595

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產品簡介

雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,碰到被測介質表面,其部分能量被反射回來,被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*,發射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小(納秒量級)很難確認。CDRD50系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術,可以準確識別發射脈沖與接收脈沖的時間隔,從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。

詳細介紹

雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,碰到被測介質表面,其部分能量被反射回來,被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*,發射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小(納秒量級)很難確認。CDRD50系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術,可以準確識別發射脈沖與接收脈沖的時間隔,從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。 
特  點 
由于采用了*的微波處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術,導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。 
“虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下,可正確地確認真實回波,獲得準確的測量結果。 
多種過程連接方式及天線型式,使得CDRD50系列雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如:高溫、高壓及小介電常數介質的測量等。 
采用脈沖工作方式,雷達物位計發射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內,對人體及環境均無傷害。應用:液體特別是腐蝕性液體,簡單過程條件 
zui大量程:30m 
測量精度:±10mm 
過程連接:G1?A、1?NPT 
天線材料:PP/PTFE 
過程溫度:-40~120℃ 
過程壓力:-0.1~3bar 
頻率范圍:6GHz 
信號輸出:兩線制/四線制4~20mA/HART

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