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廣東科文試驗設備有限公司
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LED芯片恒溫恒濕測試箱
  • LED芯片恒溫恒濕測試箱
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貨物所在地:廣東東莞市

地: 中國東莞

更新時間:2024-09-18 21:00:06

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高低溫循環測試箱
恒溫恒濕試驗箱
冷熱沖擊試驗箱
溫濕度循環試驗箱
紫外光老化試驗箱
步入式恒溫恒濕試驗室
高溫老化房
小型高低溫試驗箱
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蒸汽老化壽命試驗箱
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試驗箱
LED芯片恒溫恒濕測試箱主要適用于LED、LED芯片、LED屏、LED顯示屏、LED電源、LED驅動電源、LED開關電源、LED背光源、LED光源等工業產品高、低溫,高低溫老化,濕熱老化,高低溫循環,高溫高濕,恒溫恒濕的可靠性試驗。對LED芯片、電子電工、汽車摩托、航天材料、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關產品的零部件及材料在高、低溫(交變)循環變化的情況下,檢驗其各項性能指標。

    供應LED芯片恒溫恒濕測試箱 LED芯片溫濕度循環試驗箱 LED高低溫老化試驗箱 LED濕熱老化試驗 LED屏濕熱老化設備 

LED芯片板恒溫恒濕測試箱:該儀器適用于LED、LED芯片、LED屏、LED顯示屏、LED電源、LED驅動電源、LED開關電源、LED背光源、LED光源、LED顯示屏、LED燈條、LED燈珠、LED燈罩、LED射燈銅箔基板等工業產品高、低溫,高低溫老化,濕熱老化,高低溫循環,高溫高濕,恒溫恒濕的可靠性試驗。對LED芯片、電子電工、汽車摩托、航天材料、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關產品的零部件及材料在高、低溫(交變)循環變化的情況下,檢驗其各項性能指標。

LED芯片恒溫恒濕測試箱具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標均達到國家標準GB10592-89高低溫試驗箱技術條件,適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產品環境試驗 試驗A:低溫試驗方法,試驗B:高溫試驗方法》對產品進行低溫、高溫試驗及恒定溫熱試驗。產品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。

的溫度控制

1.可實現溫度定值控制和程序控制;
2.全程數據記錄儀(可選功能)可以實現試驗過程的全程記錄和追溯;
3.每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
4.USB接口、以太網通訊功能,使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
5.采用流行的制冷控制模式,可以0%~*自動調節壓縮機制冷功率,較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
6.制冷及電控關鍵配件均采用產品,使設備的整體質量得到了提升和保證;

 

1.高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
2.工作室材料為SUS304不銹鋼- 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
3.高密度聚氨酯發泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小;
4.表面噴塑處理 – 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
5.高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
6.多種可選功能(測試孔、記錄儀、凈水系統等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
7.大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
8.環保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環境保護要求;

的參考型號及技術參數:

型號:KW-TH-80      內箱尺寸:400×500×400       外箱尺寸:640×1490×950
型號:KW-TH-150     內箱尺寸: 500×600×500       外箱尺寸:1070×1460×1070
型號:KW-TH-225     內箱尺寸:500×750×600       外箱尺寸:1070×1610×1170
型號:KW-TH-408     內箱尺寸: 600×850×800       外箱尺寸:1170×1710×1280
型號:KW-TH-800     內箱尺寸:1000×1000×800     外箱尺寸:1550×1850×1300
型號:KW-TH-1000    內箱尺寸:1000×1000×1000    外箱尺寸:1550×1850×1500
容積:80L      150L      225L       408L      800L     1000L

溫度范圍:Z: 0~150℃  T:-20~150℃  F:-40~150℃  S:-70~150℃
濕度范圍:20~ 98﹪R.H
解 析 度: 0.1℃, 1%, P.I.D 控制
溫度均勻度:±2℃   (空載時)
溫度波動度:±0.5℃ (空載時)
升溫時間: 1.0℃~3.0℃/min
降溫時間: 0.7℃~1.0℃/min

溫馨提示:KW-TH系列可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能。以上產品單價僅作參考,由于產品的規格多種,大小不一樣定制訂購的LED濕熱試驗箱價格也不一樣,如需了解詳細價格和報價請直接 劉珂 

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:KOWIN試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環)
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第9部分:濕熱試驗

    科文無償提供安裝調試及技術培訓等服務。對設備整機免費保修壹年,終身維護。保修期內技術人員免費進行季度保養,以提升設備之使用壽命及對用戶進行服務跟進。

   科文試驗設備有限公司*: LED芯片濕熱試驗箱 LED芯片高低溫老化試驗箱 LED溫濕度循環試驗箱 LED屏濕熱老化設備 訂購:    劉珂誠摯為您服務!

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