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用途：電路板高溫老化試驗房廣泛用于電路板、PCB電路板、LED顯示器、LED燈具、電腦主板、終端機、工業控制器、監控系統、線路板、塑膠塑料、液晶顯示屏、電源供應、電子交換機等微電子電路元器件壽命可靠性試驗，設備滿足GB2423.1－2001試驗A 高溫試驗方法、GB2423.2－2001試驗B 低溫試驗方法、GB2423.1-89，GB10592－89 高低溫試驗箱技術條件、GB5170.5.-96《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法》GB/T2423、GJB150、IEC等標準的要求。

電路板高溫老化試驗房技術參數：

型號：KW-AG-容積

設計溫度范圍：RT+5℃ ～ +80℃（RT- 房間環境溫度）

溫度偏差： ≤±2℃ （空載，工作區域內測試，工作區域指距四邊及頂底內壁300MM的區域） ≤±2℃（滿載，工作區域內測試，工作區域指距四邊及頂底內壁300MM的區域，負載總發熱量＜15KW）

設定溫度精度：1℃

波 動 度：≦±2℃

降溫時間：10～60分鐘

工作室尺寸：如2000x2000x2500、3000x4000x2500、5000x6000x2500、5500x7500x2500（可根據客戶要求尺寸及溫度控制范圍訂制）。

外形尺寸：根據客戶實際要求而定

大門尺寸：根據客戶實際要求而定

觀察窗尺寸：根據客戶實際要求而定

升溫速度： 常溫～60℃≤30min

降溫時間：10～60分鐘

加熱器功率：根據客戶實際要求而定

恒定時的加熱器功率:根據客戶待產品要求而定

老化房總配電電源：380V/3PH/50HZ

運行方式： 全自動定值運行 產品測試電源：根據客戶實際要求而定,單獨開關控制

老化房設計容量：根據客戶實際要求而定,老化房的使用條件:環境溫度-10℃～40℃，濕度< 90%RH

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