電子產品恒溫恒濕試驗箱，恒溫恒濕試驗機是用于試驗電子產品，電子元器件的可靠性試驗箱。測試電子產品在高溫，低溫，濕熱，高低溫循環，高低溫恒定，高溫高濕，高溫低溫，低溫高濕等環境下使用試驗時的適應性能。廠家：135 3833 3087

電子產品恒溫恒濕試驗箱用于行業包括電子，電子產品，電子元器件，電源，電腦，手機，電池，電路板，線路板，電機，LED，LCD，PCB，FPC，IC，電阻，電容器，電線，電纜，數碼產品，通訊產品，光電，光纖，光伏組件，太陽能組件，運動器材，軍工產品，航天航空，塑膠，塑料，橡膠，化工，化學，涂料，五金，陶瓷，建材等行業的產品及零部件。

標準型恒溫恒濕試驗箱濕度控制能力范圍表：

電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱    
電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷    
電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱    
中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫    
中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫    
中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法    
中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗    
中國國家標準,GB/T2423.4-93方法    
中國國家軍用環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗

美國軍用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度    
美國軍用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫    
美國軍用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫    
美國軍用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗    
美國軍用標準,MIL-STD810D方法502.2    
美國軍用標準,MIL-STD810方法507.2程序3        
美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗    
美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗    
美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗    

日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態    
日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱    
日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫

技術參數及型號規格：

1、型號：KW-TH-80、KW-TH-150、KW-TH-225、KW-TH-408、KW-TH-800、KW-TH-1000

2、內箱尺寸：80L:400×500×400mm、150L:500×600×500mm、225L:500×750×600mm

      408L:600×850×80mm、800L:1000×1000×800mm、1000L:1000×1000×1000mm

3、溫度范圍：低溫0℃/-20℃/-40℃/-70℃～高溫150℃

4、濕度范圍：標準型（20%～98%RH）低濕型：（5%/10%～98%H）

5、溫度波動度：±0.5℃

6、濕度波動度：±2.0%RH

7、溫度均勻度：±1.5℃

8、濕度均勻度：±3.0%RH

9、升溫速率：約3.0℃～4.0℃/min

10、降溫速率：約1.0℃～1.5℃/min

11、電源要求：AC220V/50HZ、AC380V/50HZ

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