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集成電路高低溫試驗箱,芯片高低溫循環試驗機,電腦芯片高低溫濕熱試驗箱
小型高低溫箱是科文公司為廣大用戶生產的zui小型的高低溫試驗箱,相比其他高低溫試驗箱該試驗箱優勢有以下幾點:
1、該設備溫度波動度±0.3℃:相比國標±0.5℃精確0.2℃
2、該設備溫度均勻度±1.0℃ 相比國標±2.0℃精確 1.0℃
3、該設備升溫速率:3.0~5.0℃/min相比國標1.0℃~3.0℃/min快2.0℃/min
4、該設備降溫速率:1.5.0~2.0℃/min相比國標0.7℃~1.0℃/min快1.0℃/min
5、電氣、制冷配件均采用*配置,保證產品的穩定性及使用壽命長。
6、采用大屏幕逼真彩色畫面:TFT LCD(LED 背光) 7英寸TFT真彩VGA(800x480)
7、控制系統采用KW-890可設定程序120組,1200段,循環次數可達999次,每段時間zui大設定99小時59分。
8、內箱采用高級不銹鋼SUS304#通過激光切割,折彎成型,焊接組成。
9、外箱采用高級不銹鋼SUS304#或冷軋鋼板通過激光切割,折彎成型,焊接組成。(靜電噴塑處理)。
10、科文小型高低溫箱控制系統操作運行畫面:
*制冷機組:
小型高低溫箱用于測試電子、電器、電源、電路板、線路板、PCB板、FPC板、電機、電腦、手機、電池、塑膠、塑料、化工、涂料、印刷、膠粘、五金、光電、光纖、LED、LCD、PCB、FPC、IC、數碼產品、通訊產品等小型物件及取樣測試,模擬環境測試高溫、低溫、高低溫循環、高低溫恒定等條件模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產品的性能,是否仍然能夠符合預定要求,以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
符合標準:
GB11158 高溫試驗箱技術條件
GB10589 低溫試驗箱技術條件
GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GJB150.3 高溫試驗
GJB150.4 低溫試驗
GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法
IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法
型號規格、技術參數:
型號:KW-GD-80 內形尺寸:400×500×400 外箱尺寸:970×1360×970
型號:KW-GD-150 內形尺寸: 500×600×500 外箱尺寸:1070×1460×1070
型號:KW-GD-225 內形尺寸:500×750×600 外箱尺寸:1070×1610×1170
型號:KW-GD-408 內形尺寸: 600×850×800 外箱尺寸:1170×1710×1280
型號:KW-GD-800 內形尺寸:1000×1000×800 外箱尺寸:1550×1850×1300
型號:KW-GD-1000 內形尺寸:1000×1000×1000 外箱尺寸:1550×1850×1500
1、產品型號:KW-GD-80/KW-GD-150/KW-GD-225/KW-GD-408/KW-GD-800/KW-GD-1000
2、容積分別:80L、150L、225L、408L、800L、1000L
3、溫度范圍:Z:0℃~150℃,T:-20℃~150℃,F:-40℃~150℃,S:-70℃~150℃
4、溫度波動度:≤±0.5℃
5、溫度均勻度:≤±2℃
6、濕度波動:±2.5%R.H
7、升溫速率: 1.0~3.0℃/min
8、降溫速率: 1.0~1.3℃/min
小型高低溫試驗箱廠家科文為您供應的還有小型高低溫試驗箱、小型恒溫恒濕試驗箱、小型高低溫濕熱試驗箱、小型溫濕度試驗箱、小型冷熱沖擊試驗箱、小型高溫試驗箱、高溫老化房、步入式老化房、步入式恒溫恒濕試驗室、步入式高低溫試驗室等環境試驗設備。
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