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集成電路高低溫試驗箱,芯片高低溫循環試驗機,電腦芯片高低溫濕熱試驗箱
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高低溫試驗箱符合標準:
GJB150.3 高溫試驗
GJB150.4 低溫試驗
GB11158 高溫試驗箱技術條件
GB10589 低溫試驗箱技術條件
GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法
IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法
高低溫試驗箱用于:航空航天、汽車摩托車、兵裝兵器、塑膠塑料、電工電子、光電光纖、LED照明、LCD顯示器、PCB電路板、數碼產品、建材、五金、手機、電腦、電子元器件、電子產品、化工冶金、質檢計量、郵電通信、船舶鐵路等研發單位及高校和研究所。
高低溫試驗箱是用來對產品進行,耐高溫、耐低溫、以及溫度循環變化條件下使用性能和貯存的適應性、等制品檢測質量之用。模擬產品及材質經過高溫、低溫交替變化后是否有故障、質變、無法正常工作的情況,可以滿足不同的高低溫要求。高低溫試驗箱是實驗室品檢的*之設備。
高低溫試驗箱技術參數
1、產品型號:KW-GD-80/KW-GD-150/KW-GD-225/KW-GD-408/KW-GD-800/KW-GD-1000
2、容積分別:80L、150L、225L、408L、800L、1000L
3、溫度范圍:Z:0℃~150℃,T:-20℃~150℃,F:-40℃~150℃,S:-70℃~150℃
4、溫度波動度:≤±0.5℃
5、溫度均勻度:≤±2℃
6、濕度波動:±2.5%R.H
7、升溫速率:1.0~3.0℃/min
8、降溫速率:1.0~1.3℃/min
控制器運行畫面:
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