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利用白光干涉可以實現非接觸式高精度精細表面紋理測量。
利用白光干涉的非接觸式高精度精細表面紋理測量→3D形狀測量、3D粗糙度測量
高度測量精度與光學放大倍數無關即使使用低倍率鏡頭也可進行高 Z 分辨率測量
高縱橫比測量支持高縱橫比形狀測量，檢測不依賴于光學系統的數值孔徑
抗干擾振動的高魯棒性
小巧輕便
| 符號 | WLI-單元-003 | WLI-單元-005 | WLI-單元-010 |
|---|---|---|---|
代碼號 | 554-001 | 554-002 | 554-003 |
WLI-單元傳感器頭電纜長度 (m) | 3 | 五 | 十 |
WLI-Unit 傳感器頭 兼容物鏡 | WLI計劃Apo系列 | WLI計劃Apo系列 | WLI計劃Apo系列 |
WLI-Unit 傳感器頭成像放大倍率 | 1× | 1× | 1× |
WLI-Unit 傳感器頭焦距 f(mm) | 100 | 100 | 100 |
WLI-Unit 傳感頭掃描機構 | 內部物鏡掃描儀 | 內部物鏡掃描儀 | 內部物鏡掃描儀 |
WLI-單元傳感器頭尺寸（毫米） | 108×68×191 | 108×68×191 | 108×68×191 |
WLI-Unit 傳感器頭重量 (kg) | 1.7 | 1.7 | 1.7 |
筆記
物鏡是可選的。
推薦電腦規格
操作系統：Windows 10Pro 64bit / Windows 11Pro 64bit
CPU：Xeon 處理器 8 Core（2.0GHz 或更高）
內存：8GB 或更高
存儲空間：25GB 或更高
光驅：DVD-ROM 驅動器（用于軟件安裝）
通信端口：RJ -45×1端口（EtherNET）
擴展槽：PCI Express 3.0×8或更高
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