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DeepFocus 1-景深增強數碼顯微鏡VISION
  • DeepFocus 1-景深增強數碼顯微鏡VISION
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貨物所在地:福建廈門市

更新時間:2024-10-11 11:23:56

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景深增強數碼顯微鏡VISION Engineering
DeepFocus 1數碼顯微鏡,結合蔡司Visioner1和MALS™技術,提供比傳
統顯微鏡系統更大的景深(DoF),在單一視圖中提供實時清晰的影像。
無論是在質量實驗室負責研發還是在生產線上,越快速
地識別和報告問題或理解樣本故障,就能越及時地交付
高質量的產品。

景深增強數碼顯微鏡VISION Engineering

全視圖 – 聚焦 – 快速

DeepFocus 1數碼顯微鏡,結合蔡司Visioner1和MALS™技術,提供比傳統顯微鏡系統更大的景深(DoF),在單一視圖中提供實時清晰的影像。

無論是在質量實驗室負責研發還是在生產線上,越快速 地識別和報告問題或理解樣本故障,就能越及時地交付高質量的產品。  DeepFocus 1的3D立體可視化技術令用戶可從任何角 度觀察物體。高度圖和地形圖以容易理解的視圖顯示捕 獲的數據,包括Z軸高度細節。這些查看模式可確保令失效分析和質量控制更加高效,與傳統觀測系統相比,可更快速地提供準確結果。

全焦點 傳統觀測系統受景深深淺的限制,特別是在高倍放大時。只能聚焦樣品的一小部分區域,則有可能導致特征缺失和觀測不完整。DeepFocus 1數碼顯微鏡可以在單一視圖中擴展多達100 倍的樣本景深。高度達69mm組件的銳聚焦圖像在單一視圖中顯示,無需 重新定位組件,避免任何額外的重聚焦或Z軸堆疊處理。

應用 模塊化的結構、軟件和配件使得DeepFocus 1可以靈活配置,適合多種廣泛應用,適用于大多數工業環境中多種多樣的目標物觀測任務。它占地面積小,非常適合車間質量控制。能夠立即記錄 檢查任務,成為需要嚴格監管行業的理想選擇,如航空航天和醫療設備制造。

專為提高生產率設計

DeepFocus 1不僅簡化了成像和文檔記錄任務,而且實時擴展景深視圖EDoF使用戶能夠更快地檢查組件,提供更高的工作量。

無論是在質量實驗室負責研發還是在生產線上,越快速地識別和報告問題或理解樣本故障,就能越及時地交付高質量的產品。  DeepFocus 1的3D立體可視化技術令用戶可從任何角 度觀察物體。高度圖和地形圖以容易理解的視圖顯示捕獲的數據,包括Z軸高度細節。這些查看模式可確保令失效分析和質量控制更加高效,與傳統觀測系統相比,可更快速地提供準確結果。

全焦點 傳統觀測系統受景深深淺的限制,特別是在高倍放大時。只能聚焦樣品的一小部分區域,則有可能導致特征 缺失和觀測不完整。DeepFocus 1數碼顯微鏡可以在單一視圖中擴展多達100 倍的樣本景深。高度達69mm組件的銳聚焦圖像在單一視圖中顯示,無需重新定位組件,避免任何額外的重聚焦或Z軸堆疊處理。

應用 模塊化的結構、軟件和配件使得DeepFocus 1可以靈活配置,適合多種廣泛應用,適用于大多數工業環境中多種多樣的目標物觀測任務。它占地面積小,非常適合車間質量控制。能夠立即記錄檢查任務,成為需要嚴格監管行業的理想選擇,如航空 航天和醫療設備制造。

專為提高生產率設計

DeepFocus 1不僅簡化了成像和文檔記錄任務,而且實時擴展景深視圖EDoF使用戶 能夠更快地檢查組件,提供更高的工作量。

與所有Vision Engineering產品一樣,DeepFocus 1也是 為提高操作者效率而設計。DeepFocus 1即使在操作目標物或樣品含有移動部件時也能保持清晰的聚焦圖像。通過消除觀測過程中重新聚焦的需要,或耗時的Z軸堆疊 圖像處理,顯著提高生產率。

三種查看細節的方式 除了擴展景深視圖(EDoF),還可在“高度 圖"模式或“地形圖"模式查看目標物。通過不同的方 式顯示信息,可以突出細節特征并更清楚地理解。  

簡單快速報告 行業法規和質量控制過程意味著詳細的檢驗報告是必要 和重要的要求。可快速簡單地 從實時視圖中獲取2D圖 像。 這些圖像像任何標準寬場顯微鏡圖像一樣可供使用 和分析。 測量疊加圖可以應用于實時圖像,并可立即給 出公差差異指示。定制化的工作界面,即使在不同部件和檢查之間切換, 也可獲得快捷的、可重復的報告,簡化流程并減少操作失誤。

測量 內置的測量功能,包括“出入"公差提示,輕松獲得詳 細報告。 在實時視圖中測量,并從捕獲的圖像中進行增強測量,可加快和簡化細節分析任務。  對輪廓特征的簡單檢查中增加了重要的Z軸作為可用信息。

測量工具 實時測量圓、線、多邊形和矩形詳細尺寸,面積、距離 和角度。靜態測量增加了Z軸角度、距離和半徑,以及注釋、多距離測量和曲線。

優化照明 不同特征的高清晰度成像往往需要特定的照明模式。DeepFocus 1有可調節的環形光和同軸光,為每個目標物提供正確的照明。自動眩光控制技術可為反光的目標物提供實時無眩光圖像。內置同軸光為反光表面及側面帶來理想照明,并可帶來細孔底部的清晰無陰影圖像。

軟件選項 通過一系列額外的數碼顯微鏡軟件來擴展更多應用范圍、提高效率和擴展功能。添加諸多功能如的圖像分析、可審批可溯源的工作流程、自動測量和評估等。

技術參數

光學
視場(最大) 2.8 x 2.1mm5.4 x 4.0mm20.1 x 15.1mm
工作距離17mm47mm167mm
分辨率(最大)125 Lp/mm65 Lp/mm 17 Lp/mm
擴展景深(最大)1.8mm 6.4mm69.0mm






照明
內置LED同軸光源
LED環形燈,3環8段照明(支持眩光消除)
可選右側 LED光源,1環,優化2.5倍放大(支持眩光消除)


內置3百萬像素彩色攝像頭
最大圖像尺寸: 2048 x 1536 像素(實時及快照模式)
最大圖像尺寸:: 800 x 600 像素(實時及快照模式)


支架選項

臺式支架 穩定性高,占地面積小,結構緊湊。  適用于小型元件的高倍放大。Z軸定位 可調,便于設置。  

多維支架 靈活性和適應性高。 旋轉、傾斜、提 升和重新定位,快速便捷。適合大面 積長深度及的目標物,輕松調整工作 距離。 可直接安裝到工作臺上。  

EVOTIS 配置 的檢測工作站,適用于大面積PCB 元件和托盤組件。 獨立X/Y軸鎖定。

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