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凌云光技術股份有限公司

PRODUCT DISPLAY

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光柵推掃型高光譜儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號:VIS

品       牌:

廠商性質:生產商

所  在  地:北京市

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更新時間:2016-10-28 14:03:13瀏覽次數:5232次

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高光譜成像光譜儀采用一種全新的成像技術,通過推掃或調諧波長實現圖像與光譜的合二為一,改變了傳統光譜儀或相機獲取數據單一的缺點,為用戶提供了一種全新的分析手段。這種技術可以廣泛應用在天文、遙感、農業、考古、生物醫學、顏色科學、材料物理及化學等多種科研領域,同時也被廣泛應用在制藥生產、食品檢測、材料分選、LCD、印刷印染等各種工業質量控制領域。

 

高光譜成像光譜儀 光柵分光成像原理圖

 

特性描述:

  • 可同時獲取影響及光譜信息;
  • 多種波長范圍及波長分辨率,供用戶根據實際需求彈性選擇;
  • 體積簡介架構牢固,適合工業及科研研究應用;
  • 采用高衍射效率的體全息相位光柵;
  • 低散光低失真高信噪比。

 

應用領域:
遙感、食品工程、農產品測量、科學考古、教學科研、生產過程監測
遙感測量 地面遙感測量 顯微成像 礦物分析

 

性能參數:

產品
HR-Spectral Camera
HScamera-NIR-1.7
HScamera-SWIR-2.5
成像相機
CCD
InGaAs
MCT
光譜范圍
VIS380~800nm
VNIR
400~1000nm
NIR900~1700nm
SWIR1000~2500nm
像素數(空間x光譜)
1600 x 1200 / 1920 x 1080
320 x 256
320 x 256
分辨率(可選配)
2.8nm
 5nm
10nm
采集速率
30
60/100
60/100
濾光片選項
VIS OBF450
VNIR OBF570
OBF1000
OBF1000
鏡頭選擇
焦距 : 9/18.5/23/140
 焦距 : 9/18.5/23/140 遠心
焦距 : 9/18.5/23/140 遠心
接頭接口
Standard C-Mount
Standard C-Mount
Standard C-Mount
數據接口
Camera Link
Camera Link
Camera Link
軟件
   IOC SIA /ENVI
IOC SIA /ENVI
IOC SIA /ENVI
工作溫度
5 ~ 40 degree C 不結露
5 ~ 40 degree C 不結露
5 ~ 40 degree C 不結露
可選附件/服務
實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率測量/透射率測量附件)
室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
波長校準服務(必選)
輻射校準服務(可選)
實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率/透射率測量附件)
室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
波長校準服務(必選)
輻射校準服務(可選)
實驗室測量附件(暗箱,照明光源,參考白板,反射率/透射率測量附件)
室外測量附件(三腳架,儀器箱,旋/掃描鏡)
波長校準服務(必選)
輻射校準服務(可選)

 

實驗室測量系統:

對于在實驗室內的測量的用戶,我們推薦選擇實驗室測量系統,系統包括測量暗箱、固定支架、光源、位移臺、反射率測量附件和透射率測量附件,如下圖:
系統構成原理圖   系統構成實物圖

  

 

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