X熒光硫含量測定儀提高了抗雜質干擾的能力

閱讀：539發布時間：2021-6-8

　　X熒光硫含量測定儀廣泛應用于檢測液體、固體或氣體樣品中的硫含量。與國內外同類儀器相比，具有性能穩定可靠，分析精度高，重復性好等特點。

　　樣品中的總硫含量是通過紫外熒光的方法被快速測定的。高精度的數采卡和計算機技術的應用為數據的采集、控制、處理提供了可靠的保證。

　　儀器系統采用紫外熒光法測定總硫含量，提高了抗雜質干擾的能力，避免了電量法對滴定池的繁鎖操作和因此帶來的不穩定因素，使得儀器的靈敏度大為提高。系統關鍵部件采用器件，使得整機性能有了可靠的保證。

　　X熒光硫含量測定儀可測樣品狀態：液體、氣體(配相應進樣器)，PMT高壓范圍：DC500V～900V,根據測量濃度的高低，通過操作系統設置所需值。

　　用熒光強度比率分析方法,溫度、氣壓自動修正,碳氫比亦可修正，判斷儀器的工作狀態和電氣參數，待測樣時,自動伸出機體外,置放樣品及更換防漏油部件十分方便,又避免探測系統被污染的可能，硫含量測定儀數據存儲量大,含量分析結果和標定工作曲線參數隨時可查，采用熱敏打印機,更換打印紙簡單便捷,也省去了打印色帶耗材。節省標樣及氣體的用量，高激發效率端窗X光管，大面積探測器，良好的散熱，有力的確保測試的穩定，上照式設計省去了傳統保護膜，提高測試精度，避免樣品污染光管和探測器鈹窗。

　　X熒光硫含量測定儀都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，我們說原子被激發了，其他的外層電子便會填補這一空位，也就是所謂躍遷，同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的。硫含量測定儀以微電流放大、計算機數據處理，即可轉換為與光強度成正比的電信號。此化學發光的強度與NO成正比，而NO的生成量又與樣品中的總氮含量成正比，故可以通過測定化學發光的強度來測定樣品中的的總含量。

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