當前位置:上海納優儀器儀表有限公司>> AEC自動曝光控制檢驗衰減板
產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,綜合 |
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AEC自動曝光控制檢驗衰減板 序號:VD0203800
產品簡介
AEC自動曝光控制檢驗衰減板 序號:VD0203800
符合IEC 61223-3-1標準,用于40-150kV工作范圍的X射
線攝影機AEC自動曝光系統的質量檢驗。
組成:
3 個 240 x 240 x 50 mm PMMA 平板
2 個 240 x 240 x 20 mm PMMA 平板
1 個 240 x 240 x 10 mm PMMA 平板
1 個 240 x 240 x 25 mm 鋁板
AEC自動曝光控制檢驗衰減板 序號:VD0203800
產品簡介
AEC自動曝光控制檢驗衰減板 序號:VD0203800
符合IEC 61223-3-1標準,用于40-150kV工作范圍的X射
線攝影機AEC自動曝光系統的質量檢驗。
組成:
3 個 240 x 240 x 50 mm PMMA 平板
2 個 240 x 240 x 20 mm PMMA 平板
1 個 240 x 240 x 10 mm PMMA 平板
1 個 240 x 240 x 25 mm 鋁板
AEC自動曝光控制檢驗衰減板 序號:VD0203800
產品簡介
AEC自動曝光控制檢驗衰減板 序號:VD0203800
符合IEC 61223-3-1標準,用于40-150kV工作范圍的X射
線攝影機AEC自動曝光系統的質量檢驗。
組成:
3 個 240 x 240 x 50 mm PMMA 平板
2 個 240 x 240 x 20 mm PMMA 平板
1 個 240 x 240 x 10 mm PMMA 平板
1 個 240 x 240 x 25 mm 鋁板
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