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安捷倫推出強(qiáng)大的自動夾具移除（AFR）選件
2014年5月30日，北京――安捷倫科技（NYSE：A）日前宣布推出強(qiáng)大的自動夾具移除（AFR）選件。該選件主要用于旗下的 PNA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀。早前，這項(xiàng)誤差校正技術(shù)僅在安捷倫物理層測試系統(tǒng)（PLTS）軟件中提供。自動夾具移除（AFR）選件能夠成就業(yè)界zui輕松、zui快速的非同軸器件測量，幫助工程師減少時間和資金的投入。
如今，許多器件都沒有同軸連接器，只能通過夾具才能在同軸環(huán)境下進(jìn)行測量。然而，要獲得的被測件測量結(jié)果，需要去除夾具效應(yīng)。盡管可以通過 EM 電磁仿真軟件的建模，或者在基板上構(gòu)建多個校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件來表征和去除夾具效應(yīng)，但這些方法非常繁雜而且耗時。
安捷倫的 PNA AFR 選件可幫助工程師快速、地去除非同軸器件測量環(huán)境中的夾具效應(yīng)：工程師可以使用快捷的五步向?qū)С绦蛲瓿杀匾僮鳎缓髮⑷デ度胛募４鏋槎喾N格式，以便日后在 PNA、PLTS 和*設(shè)計(jì)系統(tǒng)軟件中使用。
使用 AFR 選件時，工程師必須首先對夾具輸入端的參考面進(jìn)行同軸校準(zhǔn)；然后再測量一個或多個標(biāo)準(zhǔn)件，將其作為夾具的 2 端口直通通道，或者充當(dāng)開路或短路的半端接夾具。如果只使用單端口的 AFR，實(shí)施夾具去嵌入的過程可以更快。在被測件安裝之前先對實(shí)際夾具的測量作為開路狀態(tài), 之后，AFR 選件會自動表征夾具，并將夾具效應(yīng)從測量結(jié)果中去除。目前的 PLTS 軟件也具備了單端口 AFR 功能。
安捷倫元器件測試事業(yè)部營銷 Steve Scheppelmann 表示：“ AFR 選件的精度可與板上TRL校準(zhǔn)相媲美，但實(shí)現(xiàn)起來更為輕松。對于不熟悉 AFR 的微波工程師，為了地校正夾具效應(yīng)，他們*不必再去執(zhí)行復(fù)雜的 EM 仿真或構(gòu)建板上校準(zhǔn)套件。而對于熟練使用 AFR 的信號完整性工程師，他們也能受益于 AFR 選件的單端口功能，從而顯著節(jié)省測試時間。”
安捷倫將在 2014 IEEE MTT-S 微波會議上展示的 AFR 選件以及其他 20 款設(shè)計(jì)和測量解決方案。會議預(yù)定于 6月 1 日 至 6 日在美國佛羅里達(dá)州坦帕市舉行，安捷倫位于 1133 展臺。安捷倫合作伙伴的展臺與安捷倫相鄰，他們將展示的解決方案包括：建模和器件表征，半導(dǎo)體制造，IC、晶圓和 PCB 設(shè)計(jì)、測試和原型制造，天線測量系統(tǒng)和測試暗室以及定制系統(tǒng)等。此外，安捷倫高頻技術(shù)中心研發(fā) Robert Shimon 博士將于 6 月 3 日星期二上午 10:05-10:45 在 MicroApps 劇院發(fā)表主題演講，題目是《數(shù)字市場如何推動微波技術(shù)發(fā)展》。而安捷倫元器件測試事業(yè)部研發(fā) Bob Schaefer 將于 6 月 5 日星期二下午 2:05 在MicroApps 劇院發(fā)表 AFR 主題演講，題目為《校準(zhǔn)方法提高夾具器件的測量精度》。